[相关技术] BUCK电路原理及PCB布局与布线注意事项 日期：2026-02-25 17:20:00 点击：99 好评：2
Buck架构： 当开关闭合的时候： 当开关断开的时候： 根据伏秒平衡定理可得： （Vin-Vout）*DT=Vout(1-D)T===Vin/Vout=D1 在实际DCDC应用中： 当Q1闭合的时候，在图1-a中，红线示出了当开关元件...
[相关技术] 99%的工程师忽略的问题：热对EMI的影响 日期：2026-02-25 16:13:00 点击：147 好评：0
前言 工业应用中的电子控制与传感组件能在制造、加工与生产的众多方面提供支持或实现显著的性能提升。但是，电子设备必须能够承受生产钢材、石油产品与化工品等恶劣环境或是具...
[相关技术] Blackwell芯片封装问题概述 日期：2026-02-23 17:35:00 点击：191 好评：0
一、问题概述 英伟达（Nvidia）Blackwell架构芯片在24年下半年的生产延迟，主要源于其首次大规模采用的台积电（TSMC）CoWoS-L封装技术在初期量产阶段的良率极低。根据SemiAnalysis的深度分...
[相关技术] 功率MOSFET结构和基本特性解析 日期：2026-02-23 17:22:00 点击：100 好评：0
PART01 功率MOSFET结构 1）横向MOSFET结构 普通横向MOSFET，不利于耐压的提高（易造成沟道穿通），不适合制作功率器件。 普通MOSFET结构 LDMOSFET，解决了易沟道穿通的问题，但仍不适合制作...
[相关技术] 你以为是“突然击穿”，其实它已经老了很多年 日期：2026-02-21 09:37:00 点击：80 好评：0
芯域前沿 聚焦半导体行业最新动态、技术解析与深度科普，覆盖芯片设计、制造、封测全产业链。 无论您是工程师、投资者还是科技爱好者，在这里都能读懂中国芯的崛起逻辑与未来...
[相关技术] 芯片认证：车规（AEC-Q100）与工规（JEDEC）的本质 日期：2026-02-20 21:33:41 点击：181 好评：0
许多人认为车规（AEC-Q100）和工规（JEDEC）的区别仅仅在于测试的样本数量和持续时间。然而，这种理解过于片面。AEC-Q100并非简单地在JEDEC标准上加码，它代表了一套基于失效物理学、...
[相关技术] DC/DC电源模块失效分析：从上管烧毁到瞬态过压的 日期：2026-02-20 17:42:00 点击：159 好评：0
电源模块的可靠性是电子系统稳定运行的基石。本文将以一起某型号DC/DC电源模块的失效案例为切入点，详细解析故障分析的流程、物理证据，并基于工程经验和电路原理，推断出导致...
[相关技术] MLCC失效分析案例 日期：2026-02-20 16:19:00 点击：199 好评：0
引言：小身材大能量，MLCC的脆弱瞬间 多层陶瓷电容器（MLCC）作为现代电子设备中不可或缺的基础元件，以其小尺寸、大容量、高频特性等优势，广泛应用于各类电路中。然而，在实际...
[相关技术] MLCC失效典型形貌解析 日期：2026-02-19 16:53:37 点击：170 好评：0
多层陶瓷电容器（MLCC）凭借其高容积比、低等效串联电阻（ESR）以及卓越的高频特性，已成为现代电子电路中应用最广泛的被动元件之一。然而，MLCC本质上是一种陶瓷脆性元件，其多...
[相关技术] 芯片认证：车规（AEC-Q100）与工规（JEDEC）的本质 日期：2026-02-19 16:33:28 点击：92 好评：0
许多人认为车规（AEC-Q100）和工规（JEDEC）的区别仅仅在于测试的样本数量和持续时间。然而，这种理解过于片面。AEC-Q100并非简单地在JEDEC标准上加码，它代表了一套基于失效物理学、...
