[相关技术] 19个常用电路技巧，玩转5V和3.3V的电平转换 日期：2025-05-14 19:14:00 点击：385 好评：0
01 使用LDO稳压器 标准三端线性稳压器的压差通常是 2.0-3.0V。要把 5V 可靠地转换为 3.3V，就不能使用它们。压差为几百个毫伏的低压降 （Low Dropout， LDO）稳压器，是此类应用的理想选择...
[芯片制造] 芯片前端设计与后端设计的区别 日期：2025-05-13 22:00:00 点击：161 好评：0
一、前端设计与后端设计的核心定义 前端设计（Front-end Design） ：聚焦于 电路的逻辑功能实现 。本质上是在纸上设计电路，包括芯片要干什么，要如何运算。 后端设计（Back-end Design）...
[相关技术] MOS管作开关电路的常用电路 日期：2025-05-13 21:30:46 点击：258 好评：0
本期将从以下几个问题出发： 1、MOS管如何做开关电路使用？ 2、MOS管做开关电路时为什么要加上下拉电阻？ 3、为什么不直接用GPIO控制而要用三极管来控制MOS通断？ 第一个问题，MOS管...
[相关技术] 踩坑窗口比较器 日期：2025-05-13 20:23:00 点击：228 好评：0
在工程上，我们经常用到窗口比较器，所谓窗口比较器，是指具有高阈值电压VH和低阈值电压VL的双门限比较器，当VLViVH时，也就是Vi在窗口内时，输出Vo为逻辑1，当ViVH或者ViVL时，也就...
[相关技术] 运放电路常见错误小结 日期：2025-05-13 19:10:00 点击：275 好评：0
1、没有直流通路； 运算放大器的输入端是晶体管的基极或者栅极。在完全浮空的情况下，晶体管是不会导通的。任何一个晶体管要想正常工作，必须具有合适的静态工作点，也就是它...
[芯片制造] IC使用寿命测试项目（Life test items）：EFR, OLT (H 日期：2025-05-09 20:27:00 点击：228 好评：0
IC使用寿命测试项目（Life test items）：EFR, OLT (HTOL),LTOL ① EFR: 早期失效等级测试（ Early fail Rate Test ） 目的:评估工艺的稳定性，加速缺陷失效率，去除由于天生原因失效的产品。 测试条...
[芯片制造] 详解芯片制造全流程 日期：2025-05-07 22:31:45 点击：535 好评：0
在现代科技推动下，芯片制造全流程堪称一场精密的工艺之旅。从最初的设计阶段开始，工程师们运用复杂的计算模型和仿真技术，确保每一个电路和晶体管都完美契合。接着，设计图...
[芯片制造] 浅谈IC失效分析 日期：2025-05-05 14:09:02 点击：292 好评：0
失效分析（FA） 今天和大家一起学习总结芯片失效分析（Failure Analysis）。 当一颗IC 完成design，并不意味着designer研发工作的结束，这一点作为IC designer是一定要明确的。做IC不是纸上谈...
[相关技术] 浅谈一下ADC 日期：2025-05-05 13:50:00 点击：232 好评：0
毕竟作者君自从硕士毕业之后，就没再做过ADC和DAC啦，但是学姐的很多同学们都有在做ADC和DAC的，自认为是一个很重要的方向和模块，也是一个很有意思的方向。说实话，如果有机会，...
[相关技术] 精简介绍PCB与FPC 日期：2025-04-27 20:14:00 点击：219 好评：0
随着电子产品的发展，电路板的类型也非常多，包括了硬板、软板、刚挠结合板。硬板就是普通的PCB板，不能弯折，绝大多数的产品都是采用的硬板；软板就是柔性板，可以一定程度的...
