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  • [相关技术] 19个常用电路技巧,玩转5V和3.3V的电平转换 日期:2025-05-14 19:14:00 点击:276 好评:0

    01 使用LDO稳压器 标准三端线性稳压器的压差通常是 2.0-3.0V。要把 5V 可靠地转换为 3.3V,就不能使用它们。压差为几百个毫伏的低压降 (Low Dropout, LDO)稳压器,是此类应用的理想选择...

  • [芯片制造] 芯片前端设计与后端设计的区别 日期:2025-05-13 22:00:00 点击:124 好评:0

    一、前端设计与后端设计的核心定义 前端设计(Front-end Design) :聚焦于 电路的逻辑功能实现 。本质上是在纸上设计电路,包括芯片要干什么,要如何运算。 后端设计(Back-end Design)...

  • [相关技术] MOS管作开关电路的常用电路 日期:2025-05-13 21:30:46 点击:144 好评:0

    本期将从以下几个问题出发: 1、MOS管如何做开关电路使用? 2、MOS管做开关电路时为什么要加上下拉电阻? 3、为什么不直接用GPIO控制而要用三极管来控制MOS通断? 第一个问题,MOS管...

  • [相关技术] 踩坑窗口比较器 日期:2025-05-13 20:23:00 点击:179 好评:0

    在工程上,我们经常用到窗口比较器,所谓窗口比较器,是指具有高阈值电压VH和低阈值电压VL的双门限比较器,当VLViVH时,也就是Vi在窗口内时,输出Vo为逻辑1,当ViVH或者ViVL时,也就...

  • [相关技术] 运放电路常见错误小结 日期:2025-05-13 19:10:00 点击:243 好评:0

    1、没有直流通路; 运算放大器的输入端是晶体管的基极或者栅极。在完全浮空的情况下,晶体管是不会导通的。任何一个晶体管要想正常工作,必须具有合适的静态工作点,也就是它...

  • [芯片制造] IC使用寿命测试项目(Life test items):EFR, OLT (H 日期:2025-05-09 20:27:00 点击:136 好评:0

    IC使用寿命测试项目(Life test items):EFR, OLT (HTOL),LTOL ① EFR: 早期失效等级测试( Early fail Rate Test ) 目的:评估工艺的稳定性,加速缺陷失效率,去除由于天生原因失效的产品。 测试条...

  • [芯片制造] 详解芯片制造全流程 日期:2025-05-07 22:31:45 点击:350 好评:0

    在现代科技推动下,芯片制造全流程堪称一场精密的工艺之旅。从最初的设计阶段开始,工程师们运用复杂的计算模型和仿真技术,确保每一个电路和晶体管都完美契合。接着,设计图...

  • [芯片制造] 浅谈IC失效分析 日期:2025-05-05 14:09:02 点击:203 好评:0

    失效分析(FA) 今天和大家一起学习总结芯片失效分析(Failure Analysis)。 当一颗IC 完成design,并不意味着designer研发工作的结束,这一点作为IC designer是一定要明确的。做IC不是纸上谈...

  • [相关技术] 浅谈一下ADC 日期:2025-05-05 13:50:00 点击:169 好评:0

    毕竟作者君自从硕士毕业之后,就没再做过ADC和DAC啦,但是学姐的很多同学们都有在做ADC和DAC的,自认为是一个很重要的方向和模块,也是一个很有意思的方向。说实话,如果有机会,...

  • [相关技术] 精简介绍PCB与FPC 日期:2025-04-27 20:14:00 点击:158 好评:0

    随着电子产品的发展,电路板的类型也非常多,包括了硬板、软板、刚挠结合板。硬板就是普通的PCB板,不能弯折,绝大多数的产品都是采用的硬板;软板就是柔性板,可以一定程度的...

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