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  • [测试元器件] 电子元器件技术介绍之电阻 日期:2024-01-21 19:19:16 点击:136 好评:2

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  • [测试设备] 过流、过压、过温保护电路设计 日期:2023-12-14 19:06:00 点击:238 好评:2

    一、过流保护 我们知道电路板损坏的重要现场之一就是过流导致器件烧毁,有的甚至起火冒烟引发事故。因此必须要进行功率保护设计,如常用的保险丝或者热敏电阻就属于其中简单的...

  • [测试设备] 示波器能测量什么? 日期:2023-11-27 19:30:55 点击:191 好评:0

    示波器是电子工程师最常见的仪器,很多人也把示波器比作工程师的眼睛,这也足以说明示波器对工程师有多重要。 信号是如何显示到示波器屏幕上的呢? 在示波器上,信号传输经过...

  • [测试机台/ATE] [ATE知识] 机台如何同步DUT接口时序 日期:2023-09-29 07:51:44 点击:599 好评:2

    同步是ATE机台在数字信号测试中的一个核心话题,可以依据信号的速度分为两个层次, 低速数字信号同步 和 高速数字信号同步 。 常用的SCAN/ATPG、MBIST、jtag协议的IP测试,适用于ATE机台...

  • [测试机台/ATE] [ATE知识] 01-DC参数之VIHL,VOHL) 日期:2023-09-29 06:58:00 点击:1475 好评:16

    DC 参数测试: 自动测试设备 (ATE) 是一种广泛用于半导体设备的测试系统,主要用于验证和确保芯片或其他电子组件的性能和可靠性。 一般场景下, ATE工程师需要将DFT提供的pattern转化...

  • [测试设备] 你用示波器测量过哪些参数? 日期:2023-09-22 15:45:29 点击:212 好评:0

    示波器是电子工程师最常见的仪器,很多人也把示波器比作工程师的“眼睛”,这也足以说明示波器对工程师有多重要。...

  • [测试设备] AEC-Q101 标准之TC解读 日期:2023-09-02 21:11:13 点击:254 好评:-2

    AEC-Q101 标准之TC解读 TC( Temperature Cycling )高温循环测试意义在于证实极高温度,极低温度和高温与低温交替作用时,机械应力对于器件焊接性能的作用,标准AEC-Q101-E 中 TC测试条件见图一...

  • [测试设备] 一文看懂半导体封测设备 日期:2023-08-28 19:04:00 点击:367 好评:2

    收录于合集#后道设备44个 半导体是常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。由其制成的器件统称半导体产品,被广泛地应用于电子通信、计算机、网络技术、物联网、汽车等产...

  • [测试设备] DCDC电源芯片无法正常工作,是什么原因导致的? 日期:2023-07-18 17:57:00 点击:299 好评:0

    对于DCDC电源芯片,厂商不会对外公布其内部的具体逻辑电路,但是有一点可以肯定,高低开关两种不同的状态导致的环路面积变化,如果没有处理好,产生的地弹会影响内部逻辑,使得进入不...

  • [测试元器件] MOS管损坏的原因及解决方案 日期:2023-06-25 15:25:06 点击:459 好评:0

    MOS管是金属(metal)氧化物(oxide)半导体(semiconductor)场效应晶体管,或者称是金属绝缘体(insulator)半导体。MOS管的source和drain是可以对调的,他们都是在P型backgate中形成的N型区。...

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