[探针卡/probe card] 晶圆测试异常之烧针问题分析研究 日期：2023-01-05 15:37:16 点击：2010 好评：8
在晶圆测试过程中，难免会出现一些异常问题，其中探针(Probe needle)烧针现象是个较严重的测试异常。由于探针针尖与电源PAD 接触面积较小，数百毫安(mA)电流会将探针针尖氧化，这被称...
[探针卡/probe card] 测试探针 日期：2014-06-06 16:04:01 点击：2867 好评：276
测试探针...
[探针卡/probe card] 中测探针卡类型及其应用 日期：2009-12-14 12:57:30 点击：3628 好评：496
■台北科技大學機電整合研究所黃榮堂賴文雄 本文介紹一種以微機電技術（MEMS）為基礎製作「可含有力回饋高精度垂直式探針卡」與「高頻 GSG 探針」的方法，應用的範圍著重於晶圓裸...
[探针卡/probe card] 半导体测试-中测针卡介绍 日期：2009-12-14 12:44:10 点击：6764 好评：450
集成电路中测概述 半导体产业主要由设计、晶圆制造、封装测试几部分组成。 中测（Wafer test）是半导体后道封装测试的第一站，中测有很多个名称，比如针测、晶圆测试、CP（Circuit...
[探针卡/probe card] 中测谈针卡制作深度介绍 日期：2009-05-16 13:53:13 点击：6604 好评：3157
探针卡作为中测必备的测试硬件已成为广泛关注的焦点，目前探针卡厂商也是如雨后春笋层出不穷，其中以旺杰芯微电子（MMS： www.mmspc.com.cn ）、普砾电子（probelogic： www.probelogic.com....
