ATE与Handler用于边界扫描的芯片级互连测试 一.概述 基于芯片的多芯片器件作为异构集成设计方法的产物,在当今芯片设计和实现策略中扮演着重要角色。实现多芯片器件的动力始于20世...
半导体ATE测试-IDD测试 电源电流(IDD)表示 CMOS 电路中从漏极流向漏极的电流(在TTL 电路中称为ICC,意为集电极到集电极)IDD 可等价为: 静态 IDD 测试 静态IDD是在DUT处于静态时(DUT在测试...
AEC-Q100文件,是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件,本文将重点对C组的第5项SBS - Solder Ball Shear 焊球剪切项目进行介绍。 AEC Q100 表2 C组验证内容 SBS - Solder Ball Shear 焊球剪切...
AEC-Q100文件,是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件,本文将重点对C组的第6项 LI - Lead Integrity引脚完整性项目进行介绍。 AEC Q100 表2 C组验证内容 LI - Lead Integrity 引脚完整性 我...
AEC-Q100文件,是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件,本文将重点对G组的第8项IWV - Internal Water Vapor内部水蒸汽含量测试项目进行介绍。 AEC Q100 表格2中G组内容 IWV - Internal Water...
同步是ATE机台在数字信号测试中的一个核心话题,可以依据信号的速度分为两个层次, 低速数字信号同步 和 高速数字信号同步 。 常用的SCAN/ATPG、MBIST、jtag协议的IP测试,适用于ATE机台...
DC 参数测试: 自动测试设备 (ATE) 是一种广泛用于半导体设备的测试系统,主要用于验证和确保芯片或其他电子组件的性能和可靠性。 一般场景下, ATE工程师需要将DFT提供的pattern转化...
根据各公司公告,我们找到全球8家半导体测试设备企业,2021年总销售额合计90亿美元,同比增长29%。 其中: 第1名:泰瑞达销售额37亿美元,同比增长18%,占比41%; 第2名: 爱德万销售...
根据被测的器件类型不同,IC测试可分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。 其中,数字电路测试是IC测试的基础,除少数纯模拟IC如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之...
CHROMA 3380D 超大规模集成电路测试系统 In order to cope with the IC testing trend of high-speed, numerous pins and complex functions in the future, the newest generation of Chromas VLSI tester, 3380D/3380P/3380, have adopted a mo...