[探针卡/probe card] 测试探针 日期：2014-06-06 16:04:01 点击：3046 好评：276
测试探针...
[测试元器件] 电磁继电器的参数检测和触点接触可靠性 日期：2014-05-24 20:49:15 点击：1572 好评：291
电磁继电器的参数检测和触点接触可靠性 北京华峰测控技公司 孙 铣 付卫东 摘要 本文介绍了国产电磁继电器的基本质量状态，论述了静态接触电阻参数和时间参数的检测方法，并通过...
[测试机台/ATE] 利用测时仪测量交流信号的直流偏移 日期：2014-05-22 23:30:31 点击：1116 好评：280
关键字：测时仪 交流信号 直流偏移 在如今的半导体领域，要确定集成电路器件的功能性是否满足要求，往往需要对其进行多种电测试。其中一项就是测量器件的时序，这时必须用到测...
[测试机台/ATE] 集成电路IC测试机简介 日期：2013-04-20 11:43:36 点击：4308 好评：794
集成电路测试机的种类，若依照其测试功能一般可区分为Logic测试机，Memory测试机及Mixed-signal测试机三大类。其中Logic测试机应用于一般消费性IC，如Voice，MCU IC等测试使用，Memory测试机...
[测试机台/ATE] ASL1000测试系统资料 日期：2012-10-16 20:20:31 点击：7524 好评：598
随着半导体行业的快速发展,对于测试集成电路电参数的精度和速度的要求也越来越高,测试设备和方法的改进日显迫切,自动测试系统的出现可以满足集成电路的各种测试需求。ASL1000TM是...
[测试机台/ATE] TR6850测试系统介绍 日期：2012-05-21 20:43:06 点击：3382 好评：681
TR6850测试系统介绍 TR-6850测试系统是针对电源管理和混合信号的集成电路测试所特别设计。 最多可达256个数字通道，测试速度33MHz,8M的pattern深度。 专属运放电路测试模组。 16位元任意波...
[探针台/probe] T2 Internal Engineer Prober basic training manual 日期：2012-05-21 19:41:27 点击：1299 好评：623
另外，由于篇幅较大，本站推出如下详细资料，敬请下载参考！ T2 Internal Engineer Prober basic training manual...
[探针台/probe] UF200 probe技术资料 日期：2012-05-21 19:38:29 点击：4856 好评：702
- CONTENTS - 1 Introduction.................................................................................... 1 2 Features ........................................................................................ 2 3 Main Units ..............
[测试机台/ATE] JUNO DTS1000测试系统介绍 日期：2012-04-27 14:19:00 点击：4995 好评：602
JUNO DTS-1000 测试系统说明书 2 目录 1 测试项目表（精度及范围） 1.0 通用项目 1.1 晶体管 1.2 FET 1.3 二极管 1.3.1 L.E.D 1.4 三端稳压器 1.4.1 Shut Regulator 1.4.2 Voltage Regulator 1.4.3 Low Drop Low Noise V...
[测试基础理论] 关于wafer测试的一些知识 日期：2012-04-16 21:28:42 点击：4325 好评：507
每颗IC在后工序之前都必须进行CP（Chip Prober），以验证产品的功能是否正常，并挑出不良的产品和区分性能等级。 CP主要设备包括测试机（Tester）和探针台（Prober）。 测试机 主要包括...
