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  • [探针卡/probe card] 中测探针卡类型及其应用 日期:2009-12-14 12:57:30 点击:942 好评:2

    ■台北科技大學機電整合研究所黃榮堂賴文雄 本文介紹一種以微機電技術(MEMS)為基礎製作「可含有力回饋高精度垂直式探針卡」與「高頻 GSG 探針」的方法,應用的範圍著重於晶圓裸...

  • [探针卡/probe card] 半导体测试-中测针卡介绍 日期:2009-12-14 12:44:10 点击:1449 好评:-7

    集成电路中测概述 半导体产业主要由设计、晶圆制造、封装测试几部分组成。 中测(Wafer test)是半导体后道封装测试的第一站,中测有很多个名称,比如针测、晶圆测试、CP(Circuit...

  • [测试机台] BC3196D测试程序开发介绍 日期:2009-11-12 21:10:41 点击:249 好评:0

    编程流程 通常的测试项目种类: 功能测试:真值表,算法向量生成。 直流参数测试:开路/短路测试,输出驱动电流测试,漏电电源测试,电源电流测试,转换电平测试等。 交流参数测...

  • [数字芯片] Testing CD74HC354 Multiplexer by the Teradyne J750 Tester 日期:2009-11-05 10:55:18 点击:429 好评:2

    本文图文并茂的解说了使用Teradyne的J750测试机,开发一款数字IC--CD74HC354的详细过程,相信对大家的J750学习非常有帮助! Step 1: Creating the Channel Map Before the DUT can be tested, each pin on the DU...

  • [测试机台] 泰瑞达J750详细技术指标 日期:2009-11-04 21:17:01 点击:324 好评:4

    J750 Hardware Specifications Rev 1.95 4/27/2001 Table of Contents 1. Overview ............................................................................... 5 1.1 Environmental..................................................................

  • [测试机台] Agilent 93000 SOC Tester 使用指南 日期:2009-06-03 21:46:40 点击:633 好评:3

    本文主要分两部分,第一部分为93k简介,内容包括硬件及软件介绍;第二部分为一数字芯片测试开发过程,对于93K来说是一份非常难得的资料,建议大家研读! 一、簡介 Agilent 93000 SO...

  • [探针卡/probe card] 中测谈针卡制作深度介绍 日期:2009-05-16 13:53:13 点击:1266 好评:-2

    探针卡作为中测必备的测试硬件已成为广泛关注的焦点,目前探针卡厂商也是如雨后春笋层出不穷,其中以旺杰芯微电子(MMS: www.mmspc.com.cn )、普砾电子(probelogic: www.probelogic.com....

  • [测试机台] 泰瑞达J750与FLEX测试系统性能参数比较 日期:2009-05-04 21:13:47 点击:479 好评:0

    泰瑞达(Teradyne)是全球最大的半导体自动测试设备供应商,也是连接系统和用于汽车行业的测试设备的领先供应商。泰瑞达为广泛的半导体电路提供测试解决方案,覆盖模拟、混合信...

  • [测试机台] 泰瑞达J750测试系统培训资料系列 日期:2009-04-04 21:31:41 点击:1430 好评:1

    泰瑞达(Teradyne)是全球最大的半导体自动测试设备供应商,也是连接系统和用于汽车行业的测试设备的领先供应商。泰瑞达为广泛的半导体电路提供测试解决方案,覆盖模拟、混合信...

  • [测试元器件] 贴片元件封装--SMT基础知识介绍 日期:2009-04-03 16:44:14 点击:262 好评:4

    SMT(Surface Mount Technology)是电子业界一门新兴的工业技术,它的兴起及迅猛发展是电子组装业的一次革命,被誉为电子业的明日之星,它使电子组装变得越来越快速和简单,随之而来的是...

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