[测试机台/ATE] TR6800案例资料 日期：2012-04-14 20:47:22 点击：1697 好评：626
Single site double volt,curr; int CL_Time; #define VERROR 0.003 #define VERRORH 0.005 #define CLAMP_VERROR 0.03 #define IERROR 0.003 #define IERRORH 0.004 #define CLAMP_IERROR 0.03 #define RLY_STON 0.005 #define RLY_STOFF 0.001 #define ON 1...
[探针台/probe] UF3000 Set Up Device 簡易操作及相关资料 日期：2012-01-26 19:33:24 点击：4371 好评：615
1-1 開機畫面如下: 此畫面為power on時第一段開機程序. 可在此畫面做一些 configuration data 的設定. 是適用於工程人員使用的. 一般來說操做人員只須按下START 將 Prober 做 Initialize 的動做既可...
[测试机台/ATE] TR6800测试系统资料 日期：2011-11-06 20:38:44 点击：2027 好评：659
TRIs TR6800 IC tester is specially designed for testing Power Management ICs. It is ideal for testing regulators, detectors, resets, switches, HCS and TMU modules for DC parameter measurement, AC32 and AC64 modules for functional pattern te...
[测试机台/ATE] 一种钽电容自动测试系统的介绍 日期：2010-09-17 20:17:31 点击：1033 好评：864
钽电容器是一种较新型的电解电容器，自从五十年代问世以来，即以其优异的性能，如体积小、单位体积电容大(是铝电解的3倍)，漏电流少(钽电解要比铝电解小一级数量级)，工作温度...
[测试机台/ATE] 一种数字集成电路测试系统的设计 日期：2010-09-17 11:52:21 点击：890 好评：674
摘要:介绍了一种数字集成电路测试系统的工作原理、组成。提出了系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构，可测试电平范围宽。 关键词:数字集成电路 测试功能 测试通道...
[测试机台/ATE] 一种基于AT89C52的简单集成电路测试仪的设计 日期：2010-09-16 12:04:28 点击：914 好评：672
在高校的教学实验环节中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。目前，市场上存在一种可以对TTL、CMOS数字芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是考虑到其价格较贵，较难满足学...
[S0C系列] 基于ADVANTest T66XX的Base Band通信类SoC测 日期：2010-09-15 13:59:18 点击：2388 好评：694
摘要：本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题，在此将介绍基于ADVANTest(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字...
[测试机台/ATE] IC测试机-ATE/ATS内部结构简介 日期：2010-09-14 14:03:55 点击：3647 好评：609
ATE/ATS:自动测试设备/自动测试系统，也称测试机是测试工程师在IC测试中必须使用的工具，本文主要从技术层面对ATE/ATS的组成及软硬件及其接口要求进行了简明扼要的论述，以便测试工...
[模拟芯片] 通用运算放大器主要参数测试方法说明 日期：2010-08-24 11:12:56 点击：6011 好评：804
运算放大器是模拟器件的核心，熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础，掌握了运放的测试，其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚，所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位，故劝各位...
[测试机台/ATE] chroma相关测试机台介绍 日期：2010-08-21 14:13:09 点击：5010 好评：602
致茂电子成立于1984年，总部位于台湾，为世界领先的自动测试设备（ATE）自有品牌供货商，提供量测仪器及系统予各科技产业，且专精于全方位(turnkey)测试、自动化解决方案与制造信息...
