ATE(Automatic Test Equipment)是用于检测集成电路(IC)功能完整性的自动测试设备。它在半导体产业中扮演着至关重要的角色,主要用于检测IC的各种参数,如直流参数、交流参数和功能测试等,以评估芯片的性能、功能和可靠性。ATE测试的基本原理是通过测试向量对芯片施加激励,测量芯片的响应输出,并与预期结果进行比较,从而判断芯片是否符合规格要求。ATE测试可以分为几个关键步骤: 1. 直流参数测试:这是一种稳态测试方法,用于确定器件的电气参数,包括接触测试、漏电流测试、转换电平测试、输出电平测试和电源消耗测试等。 2. 交流参数测试:这种测试关注与时间相关的参数,如工作频率、输入信号输出信号随时间的变化关系等。常见的测量参数包括上升和下降时间、传输延迟、建立和保持时间以及存储时间等。 3. 功能测试:功能测试模拟IC的实际工作状态,输入一系列有序或随机组合的测试图形,检测输出信号是否与预期图形数据相符,以此判别电路功能是否正常。 1. Opens/Shorts测试在半导体器件中,每个引脚通常会接一个二极管,这主要是为了提供电气保护。这些二极管通常是ESD(Electrostatic Discharge,静电放电)保护二极管,它们的作用是在静电放电事件中保护芯片免受损害。当静电能量冲击芯片时,这些二极管能够将电荷导向地或电源,从而防止芯片内部电路受到破坏。在OS(Open-Short)测试中,这些保护二极管也起到了关键作用。测试管脚对VDD(电源)的测试:1. 施加电流:使用ATE的PPMU向管脚施加+100uA的电流。 2. 测量电压:测量管脚上的电压。 3. 判断开路或短路: a. 如果测量电压大于+1.2V,表明没有足够的电流流过该管脚,因此判断为开路。 b. 如果测量电压小于+0.1V,表明有过多的电流流过该管脚,因此判断为短路。 测试管脚对GND(地)的测试:1. 施加电流:使用ATE的PPMU向管脚施加-100uA的电流。2. 测量电压:测量管脚上的电压。 3. 判断开路或短路: a. 如果测量电压小于-1.2V,表明没有足够的电流流过该管脚,因此判断为开路。 b. 如果测量电压大于-0.1V,表明有过多的电流流过该管脚,因此判断为短路。 因 PMU 提供的是恒流,所以需要设置电压钳,以钳制住开路引脚测试时产生的电压,否则电压会无穷大。如果钳制电压设置为 3V,那么当一个引脚为开路时,其测试结果就是 3V。这种方法仅限于测试信号 IO 引脚,不能用于测试电源引脚。电源引脚虽然也可在开路条件下进行测试,但因其内部结构不同,需要设定不同的测试限度。综上,OS 静态测试的特点是:串行法一次只测一个引脚,步骤简单但效率低,适用于引脚少的 DUT。并行法需要测试系统有 PPMU,缺点是检测不出相邻引脚短路,解决方法是分两次测试(比如第一次测 1357 引脚,第二次测 2468 引脚)。施加电流,测量电压。
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