[测试理论] 芯片测试科普 日期：2022-04-21 17:33:38 点击：4746 好评：45
作为一个芯片设计公司（fabless）,我们也非常关注集成电路产业链的各个环节，以此更好地给客户提供价值。 这次我们给大家说说芯片测试相关。 1、 测试在芯片产业价值链上的位置 如...
[测试理论] 50Ω阻抗问题详解及射频电路设计中的阻抗匹配问 日期：2022-04-20 14:27:03 点击：387 好评：8
为什么很多射频系统或者部件中，很多时候都是用50欧姆的阻抗。有时候这个值甚至就是PCB板的缺省值，为什么不是60或者是70欧姆呢？这个数值是怎么确定下来的，背后有什么意义？本...
[测试理论] 详解WAT（晶圆接受测试，Wafer Acceptance Test） 日期：2022-03-30 15:40:14 点击：2760 好评：2
以前做业务的时候，经常问同事，集成电路的工程师到底关注晶圆或者器件的什么性质，哪些性质是通过实验设备测得的，哪些可以是通过模拟仿真获得的。同事就说去看WAT或者集成电...
[测试基础理论] LDO的PSRR参数的几种测量方法 日期：2021-07-15 18:38:03 点击：1796 好评：18
LDO的PSRR参数是Power Supply Rejection Ratio的缩写，即电源纹波抑制比。它是指输入纹波与输出纹波的比值，通常是以对数形式表示。 PSRR=20*log[Ripple(VIN)/Ripple(VOUT)] 单位为分贝(dB)。例如，PSR...
[测试理论] SCAN-比知道多一点 日期：2018-10-27 19:08:33 点击：4535 好评：52
我们都知道，SCAN的fail，对应于制造过程中出现的defect。所以一些EDA厂商，会有scan diagnosis的工具。这些工具结合芯片的逻辑设计和物理结构，并给它足够的scan fail cycle的信息，能够定位...
[测试基础理论] 集成电路芯片测试小结 日期：2018-06-14 09:41:22 点击：10186 好评：195
半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容...
[测试基础理论] 什么是拉电流 、灌电流、吸收电流 ? 日期：2018-06-13 09:20:39 点击：3412 好评：119
拉电流和灌电流是衡量电路输出驱动能力（注意：拉、灌都是对输出端而言的，所以是驱动能力）的参数，这种说法一般用在数字电路中。 这里首先要说明，芯片手册中的拉、灌电流是...
[测试理论] 永不改变的PCB设计黄金法则 日期：2018-05-24 09:32:57 点击：1733 好评：72
电子设计工程师在使用设计软件进行PCB布局设计及商业制造时应牢记并践行的十条最有效的设计法则。工程师无需按时间先后或相对重要性依次执行这些法则，只需全部遵循便可极大地...
[测试基础理论] DFT，可测试性设计--概念理解 日期：2018-05-11 10:29:23 点击：3225 好评：126
工程会接触DFT。需要了解DFT知识，但不需要深入。 三种基本的测试（概念来自参考文档）： 1. 边界扫描测试；boundary scan test。测试目标是IO-PAD，利用jtag接口互连以方便测试。（jtag接口...
[测试基础理论] 工程师必须搞清DCDC和LDO的区别 日期：2018-05-09 10:28:52 点击：3089 好评：154
LDO：LOW DROPOUT VOLTAGE LDO（是low dropout voltage regulator的缩写,整流器） 低压差线性稳压器，故名思意，为线性的稳压器，仅能使用在降压应用中。也就是输出电压必需小于输入电压。 优点：...
