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  • [测试基础理论] 电压比较器VIO的开环测试 日期:2005-07-03 16:45:43 点击:234 好评:0

    输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数,GB/T 6798-1996中,将其定义为使输出电压为规定值时,两输入端间所加的直流补偿电压。传统测试设备大都采用...

  • [测试基础理论] VLSI芯片-数字信号测试 日期:2005-07-03 16:22:59 点击:158 好评:0

    数字信号测试作为VLSI芯片测试的基础,已经是一项应用十分广泛的技术。各个EDA供应商、ATE供应商都有着十分成熟的解决方案,包括功能测试仿真向量的产生,转换和实际测试操作,以...

  • [测试基础理论] IC测试简述 日期:2005-03-02 08:53:25 点击:296 好评:0

    随着集成电路制造技术的进步,人们已经能制造出电路结构相当复杂、集成度很高、功能各异的集成电路。但是这些高集成度,多功能的集成块仅是通过数目有限的引脚完成和外部电路...

  • [混合信号芯片] 通信类SoC-Base Band测试方案 日期:2005-02-25 09:33:32 点击:418 好评:-2

    通信类SoC测试方案Base Band 徐勇,魏炜,川端雅之,小圆祐一,浅见幸司 ADVANTEST 摘要:本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题,在此将介绍基于...

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