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  • [测试机台] STS8107测试系统测试开发注意事项及技巧 日期:2008-01-24 21:00:12 点击:577 好评:45

    (一) 应用开发注意事项 信号基本特性及应用 POWER 插座中的电源 J+5V 和 VDD 、 VSS 系统为四工位DUT板提供了J+5V和VDD、VSS电源。J+5V用于为DUT板上继电器供电;VDD、VSS的电压是15V,为DUT板...

  • [数字芯片] LCD Driver IC测试方法及其挑战 日期:2007-11-05 10:29:11 点击:786 好评:33

    LCD显示器件在中国已有二十多年的发展历程,已经从最初的以数字显示为主转变为以点阵字符、图形显示为主。LCD显示设备以其低电压驱动、微小功耗、能够与CMOS电路和LSI直接匹配、具...

  • [测试板/loadboard] loadboard及测试板PCB设计参考 日期:2007-08-02 10:46:39 点击:415 好评:18

    关于混合电路PCB材质选择及布线注意事项 问:在当今无线通信设备中,射频部分往往采用小型化的室外单元结构,而室外单元的射频部分、中频部分,以及对室外单元进行监控的低频电...

  • [测试基础理论] 运算放大器测试原理培训 日期:2007-03-02 10:29:12 点击:238 好评:1

    讲授内容: 1、总的要求 ? 无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详 细规范的规定; ? 测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的...

  • [测试基础理论] 基于扫描的DFT对芯片测试的影响 日期:2006-07-03 16:47:24 点击:225 好评:3

    引言 随着ASIC电路结构和功能的日趋复杂,与其相关的测试问题也日益突出。在芯片测试方法和测试向量生成的研究过程中,如何降低芯片的测试成本已经成为非常重要的问题。DFT(可测性...

  • [测试相关新闻] IC测试新技术新标准发展动向 日期:2006-07-03 16:30:24 点击:266 好评:13

    一、降低测试成本提高测试速度势在必行 任何一种电子产品都离不开体积小、功能强的芯片,正是芯片推动着IC飞速发展,同时,也推动着IC电子设计自动化和测试技术的发展,但是测...

  • [测试基础理论] 低压差线性稳压器简介 日期:2006-03-02 13:01:55 点击:297 好评:6

    什么是LDO? 什么是 LDO? LDO 是一种线性稳压器。线性稳压器使用在其线性区域内运行的晶体管或 FET,从应用的输入电压中减去超额的电压,产生经过调节的输出电压。所谓压降电压,是...

  • [测试基础理论] 电压比较器VIO的开环测试 日期:2005-07-03 16:45:43 点击:305 好评:5

    输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数,GB/T 6798-1996中,将其定义为使输出电压为规定值时,两输入端间所加的直流补偿电压。传统测试设备大都采用...

  • [测试基础理论] VLSI芯片-数字信号测试 日期:2005-07-03 16:22:59 点击:217 好评:1

    数字信号测试作为VLSI芯片测试的基础,已经是一项应用十分广泛的技术。各个EDA供应商、ATE供应商都有着十分成熟的解决方案,包括功能测试仿真向量的产生,转换和实际测试操作,以...

  • [测试基础理论] IC测试简述 日期:2005-03-02 08:53:25 点击:406 好评:1

    随着集成电路制造技术的进步,人们已经能制造出电路结构相当复杂、集成度很高、功能各异的集成电路。但是这些高集成度,多功能的集成块仅是通过数目有限的引脚完成和外部电路...

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