[测试理论] MOSFET的SOA或者ASO是什么？ 日期：2022-06-05 12:25:12 点击：707 好评：-2
SafeOperating Area（SOA） 有的厂家将他称之为 Area of Safe Operation (ASO) 安全工作区：SOA(Safe operating area)是由一系列(电压，电流)坐标点形成的一个二维区域，开关器件正常工作时的电压和电流...
[测试理论] RF 芯片测试的一些简单知识 日期：2022-05-04 11:15:18 点击：345 好评：15
PA 是进入射频测试的基础，也是比较经典的产品，市场空间比较大。楼主刚涉足这个领域，所以最近一段时间一直在研究PA类型的产品测试。 射频领域的书籍很多，但是射频芯片测试书...
[测试理论] 详解IGBT原理，参数及应用技术 日期：2022-05-04 09:07:48 点击：591 好评：2
前言 01 大家好，本文 主要介绍了大功率IGBT模块应用中的一些技术，包括参数解读、器件选型、驱动技术、保护方法以及失效分析等，内容相对浅显易懂，比较适合初学者！ 图片来源于...
[测试理论] 芯片测试的分类讲解 日期：2022-04-25 09:42:52 点击：775 好评：30
做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试，芯片成本构成一般为人力成本20%，流片40%，封装35%，测试5%【对于先进工艺，流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...
[测试理论] 详解 DFT 之 IBIST 日期：2022-04-22 15:04:40 点击：1954 好评：10
LBIST 是一种内置自测 (BIST) 形式，其中芯片内部的逻辑可以在芯片本身上进行测试，而无需任何昂贵的自动测试设备 (ATE)。BIST 引擎内置于芯片内部，只需要像测试访问端口 (TAP) 这样的访...
[测试理论] 详解DFT之SCAN TEST 日期：2022-04-22 14:52:38 点击：2303 好评：0
什么是boundaryscan 边界扫描是一种测试技术，其设计的器件在每个器件引脚和内部逻辑之间放置了移位寄存器，如图 1 所示。每个移位寄存器称为边界扫描单元。这些边界扫描单元允许您...
[测试理论] 详解芯片测试之DFT 日期：2022-04-22 14:38:17 点击：3214 好评：6
dft 是什么 可测试性设计（Design for Testability）是一种集成电路设计技术。它是一种将特殊结构在设计阶段植入电路的方法，以便生产完成后进行测试，确保检测过后的电子组件没有功能...
[测试理论] 浅谈DFT之MBIST 日期：2022-04-22 14:17:48 点击：1087 好评：0
什么是mbist MBIST 方法是目前大容量存储器测试的主流技术，该技术利用芯片内部专门设计的BIST 电路进行自动化测试，能够对嵌入式存储器这种具有复杂电路结构的嵌入式模块进行全面的...
[测试理论] 简单聊聊芯片DFT测试之ATPG 日期：2022-04-22 13:37:26 点击：2189 好评：4
Test pattern generation (TPG) 是为给定故障模型生成test pattern的过程。如果我们通过详尽的测试，在最坏的情况下，我们可能需要 2n 个（其中 n 代表input的数量）分配来找到single stuck-at fault的...
[测试理论] ADC基础及测试详解 日期：2022-04-21 18:03:58 点击：4557 好评：16
本文的目的是介绍高速ADC相关的理论和知识，详细介绍了采样理论、数据手册指标、ADC选型准则和评估方法、时钟抖动和其它一些通用的系统级考虑。另外，一些用户希望通过交织、平...
