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  • [测试理论] FLASH闪存产品概述 日期:2022-09-27 14:57:40 点击:452 好评:0

    随着国内对集成电路,特别是存储芯片的重视,前来咨询我们关于NOR Flash,NAND Flash,SD NAND, eMMC, Raw NAND的客户越来越多了。这里我们专门写了这篇文章: 1、把常用的存储产品做了分类...

  • [测试理论] 线性电源LDO基础知识:电源抑制比 日期:2022-07-30 17:18:15 点击:550 好评:4

    PSRR是一个常见的技术参数,在许多LDO datasheet里都能看到,他规定了在特定频率的交流信号从LDO输入到输出的衰减程度...

  • [测试理论] 详解SPI协议 日期:2022-07-23 13:07:40 点击:554 好评:0

    SPI协议作为一个芯片常用的通讯接口协议,作为测试工程师有必要详细了解一下,接下来我们一起学习一下SPI 1、什么是SPI? SPI是串行外设接口(Serial Peripheral Interface)的缩写,是 Motoro...

  • [测试理论] 通俗易懂的I2C协议 日期:2022-07-23 12:55:27 点击:586 好评:10

    I2C总线是一种简单、双向二线制同步串行总线。 I2C通讯协议因其引脚少,硬件实现简单,可扩展性强,不需要USART、CAN等通讯协议的外部收发设备等优点,被广泛地使用在系统内多个集...

  • [测试理论] 功率MOSFET基础详解 日期:2022-07-23 12:29:57 点击:1393 好评:10

    功率MOSFET作为一个应用及其广泛的基础元器件,我们测试工程师有必要深入了解一下,如下为power MOS的详细介绍,敬请参考 副标题 副标题 副标题 副标题...

  • [测试理论] 晶圆允收测试技术详解-WAT PCM参数 日期:2022-07-23 10:46:12 点击:3821 好评:18

    晶圆允收测试,也叫WAT(wafer acceptance test),或者叫PCM参数测试,通常在晶圆在完成加工后,对晶圆上的各种结构进行的电性测试,主要测试耐压,漏电,电阻,电容等参数,通过WAT数...

  • [测试理论] Boost升压电路原理及设计详解 日期:2022-07-16 19:53:05 点击:672 好评:6

    Boost电路是一种开关直流升压电路,它能够使输出电压高于输入电压。在电子电路设计当中算是一种较为常见的电路设计方式。本文将给大家介绍boost基本原理、电路参数设计。 首先我...

  • [测试理论] 什么是s参数?s参数的含义又是什么? 日期:2022-06-05 12:46:37 点击:633 好评:8

    对于高频电路,需要采用网分来进行分析,此时需要用到S参数,可以使用元器件厂家的S参数也可以自己搭建测试电路使用网络分析仪来测得S参数,要想深刻的理解S参数,需要具备足够...

  • [测试理论] BUCK-BOOST负电压产生原理 日期:2022-06-05 12:46:37 点击:497 好评:4

    在电路系统中,负电压的应用远没有正电压多,因此是很多人忽略的一个电源架构,很多同学经常就会问,怎么产生负电压?...

  • [测试理论] 关于I2C总线上拉电阻的一点探讨 日期:2022-06-05 12:40:37 点击:469 好评:0

    在一些PCB的layout中,大家往往会看到在I2C通信的接口处,往往会接入一个4.7K的电阻,有的datasheet上面明确有要求,需要接入,有的则没有要求。 I2C总线接口电路 对于单片机来讲,有些...

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