欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业IC测试网

当前位置: 网站主页 > 测试理论 >
  • [测试基础理论] 电路设计(四):电容的应用 日期:2016-09-23 11:11:45 点击:665 好评:240

    :主要用于电源滤波、信号滤波、信号耦合、谐振、滤波、补偿、充放电、储能、隔直流等电路中。以下介绍基于电容常用功能,详细介绍各功能应用。 电容特性:通交流阻直流,通高...

  • [测试基础理论] 芯片测试的几个术语及解释(CP、FT、WAT) 日期:2016-09-22 11:34:36 点击:11483 好评:1812

    CP 是把坏的 Die 挑出来,可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道 Wafer 的良率。 FT 是把坏的 chip 挑出来;检验封装的良率。 现在对于一般的 wafer 工艺,很多公司多把 CP 给省了;...

  • [测试基础理论] 非常详细的开关电源原理与设计讲义(60页PPT) 日期:2016-09-22 10:12:42 点击:1158 好评:211

    开关电源基本原理与设计...

  • [专题讨论] 第六届IC测试研讨会详细内容 日期:2015-11-08 19:48:08 点击:2443 好评:288

    在广大测试工程师的期待中,我们第六届IC测试研讨会于2015年11月7日,在上海张江IC咖啡隆重举行,来自五湖四海的140多位工程师们共同分享这次技术大餐,干货如下: 主题一:《 汽车...

  • [测试基础理论] 高速数字信号管脚的常用测试方法 日期:2015-09-06 21:52:03 点击:2416 好评:265

    一直都没有机会聊具体的测试技术 , 今天就开始聊一下 . 介绍下高速数字信号管脚的常用测试方法 目前越来越多的 SOC 芯片都会有高速的数字信号管脚 , 常见的如 LVDS,HDMI 以及 PCIe 等信...

  • [测试基础理论] 浅谈DC/AC SCAN测试 日期:2015-09-06 21:24:21 点击:10117 好评:375

    SCAN 技术,也就是 ATPG 技术 -- 测试 std-logic, 主要实现工具是:产生 ATPG 使用 Mentor 的 TestKompress 和 synopsys TetraMAX ;插入 scan chain 主要使用 synopsys 的 DFT compiler 通常,我们所说的 DCSCAN 就是...

  • [测试基础理论] 数字信号与模拟信号的区别 日期:2015-09-06 21:20:00 点击:1010 好评:239

    模拟数据(Analog Data)是由传感器采集得到的连续变化的值,例如温度、压力,以及目前在电话、无线电和电视广播中的声音和图像。 数字数据(Digital Data)则是模拟数据经量化后得到的离散...

  • [芯片相关原理] ADC相关知识整理 日期:2015-09-06 21:07:58 点击:1098 好评:280

    过采样频率: 增加一位分辨率或每减小6dB 的噪声,需要以4 倍的采样频率fs 进行过采样. 假设一个系统使用12 位的ADC,每秒输出一个温度值(1Hz),为了将测量分辨率增加到16 位,按下式计...

  • [测试基础理论] 测试基础篇-电容与电感对电流测试的影响 日期:2015-09-05 16:16:31 点击:1576 好评:265

    说起测试,最基本的就是电压和电流的测试,对于比较理想的条件下,电压和电流的测试是比较容易的,借助测试V/I源,我们可以很方便的对电压和电流进行测试。 然而,在实际的测试...

  • [其他] PhotoMOS Relay的热切换实验(Hot Switching) 日期:2015-09-05 16:04:39 点击:1117 好评:259

    我们先了解下PhotoMOS,PhotoMOS是指在输入元件中采用LED,在输出元件中采用MOSFET的光电耦合器。PhotoMOS与传统 的机械型继电器最大的区别在于:PhotoMOS是一款光电耦合器,触点不进行机械...

栏目列表