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  • [测试基础理论] 半导体测试技术 日期:2010-08-15 15:23:02 点击:967 好评:6

    本书详细介绍了半导体测试技术,主要针对晶圆测试技术,如PCM相关参数测试,方块电阻测试,晶圆缺陷等,另外详细讲解了测试技术,是本不错的半导体测试方面的参考书籍,非常值...

  • [芯片制造] 半导体基础知识与晶体管工艺原理之三 日期:2010-08-14 09:17:57 点击:849 好评:-5

    2-2-4光刻工艺 1光刻的目的在氧化层和金属化层上刻蚀出各种图形,以便下一步进行定域扩散或引出电极。(形成图形) 2光刻的工艺过程:(图27 ) 图27光刻的工艺过程示意 3 光刻的原...

  • [芯片制造] 半导体基础知识与晶体管工艺原理之二 日期:2010-08-14 09:10:55 点击:753 好评:3

    图17共发射极输出特性的三个工作区 3输出特性曲线的几种异常情况 1)大电流特性差(图18a)2)小电流特性压缩(图18b) 3)饱和压降大(图18c)4)特性曲线倾斜(图18d) 5)两段饱和...

  • [芯片制造] 半导体基础知识与晶体管工艺原理之一 日期:2010-08-14 08:55:55 点击:1036 好评:8

    本文讲解了半导体的一些基本概念和晶体管的制造工艺方面的原理,非常适合初入微电子行业的新人学习之用,可以说是半导体行业入门的通用教材,其实对于半导体行业,基础知识非...

  • [测试基础理论] IDDQ测试解析 日期:2010-08-13 15:13:06 点击:833 好评:24

    IDDQ测试在大规模集成电路测试中尤为重要,本文将详细阐述IDDQ测试原理,测试方法。 IDDQ TUTORIAL Goals: To show how a quiescent current supply test, Iddq, contributes to ICdefect isolation. To understand the c...

  • [测试基础理论] 差分信号介绍--intel内部培训资料 日期:2010-08-10 20:13:31 点击:451 好评:9

    本文详细介绍了差分信号的各种特性,从原理,PCB设计,仿真等各方面阐述了差分信号的特点,为intel内部培训资料,不可多得,值得参考,强烈推荐,以下为资料主要内容: Different...

  • [测试基础理论] Arithmetic Built-in Self Test for Embedded Systems 日期:2010-07-10 15:36:45 点击:110 好评:1

    本书详细介绍了超大规模集成电路的内建自测试的原理,方法,是一本非常难得的IC测试书籍,被誉为IC测试必备书籍之一。本书为英文版资料,适合具有一定测试基础的IC测试工程师阅...

  • [测试基础理论] memory原理及测试介绍 日期:2010-07-07 16:04:50 点击:987 好评:8

    本站收集了一些memory测试资料,其中包括memory原理及测试介绍,另外包括一个测试程序的demo,以供测试工程师参考。详见如下: Memory Testing and Pattern Introduction Brief Introduction Memory Clas...

  • [测试机台] 一种简易IC测试机的实现方案 日期:2010-04-24 14:11:42 点击:517 好评:19

    集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门...

  • [测试基础理论] 大规模集成电路测试方法研究-边界扫描测试方法 日期:2010-03-02 15:27:55 点击:975 好评:9

    目 录 1 边界扫描测试方法 1 1.1边界扫描基本状况1 1.2 IEEE STD 1149.1 1 1.3 IEEE STD 1149.4 3 1.4 IEEE STD 1149.5 5 1.5 IEEE STD 1149.6 6 1.6边界扫描测试的发展前景 9 1.7 本章小结 9 2 全扫描可测试性实现方...

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