[测试理论] 详解 DFT 之 IBIST 日期：2022-04-22 15:04:40 点击：2256 好评：10
LBIST 是一种内置自测 (BIST) 形式，其中芯片内部的逻辑可以在芯片本身上进行测试，而无需任何昂贵的自动测试设备 (ATE)。BIST 引擎内置于芯片内部，只需要像测试访问端口 (TAP) 这样的访...
[测试理论] 详解DFT之SCAN TEST 日期：2022-04-22 14:52:38 点击：2726 好评：0
什么是boundaryscan 边界扫描是一种测试技术，其设计的器件在每个器件引脚和内部逻辑之间放置了移位寄存器，如图 1 所示。每个移位寄存器称为边界扫描单元。这些边界扫描单元允许您...
[测试理论] 详解芯片测试之DFT 日期：2022-04-22 14:38:17 点击：3461 好评：6
dft 是什么 可测试性设计（Design for Testability）是一种集成电路设计技术。它是一种将特殊结构在设计阶段植入电路的方法，以便生产完成后进行测试，确保检测过后的电子组件没有功能...
[测试理论] 浅谈DFT之MBIST 日期：2022-04-22 14:17:48 点击：1398 好评：0
什么是mbist MBIST 方法是目前大容量存储器测试的主流技术，该技术利用芯片内部专门设计的BIST 电路进行自动化测试，能够对嵌入式存储器这种具有复杂电路结构的嵌入式模块进行全面的...
[测试理论] 简单聊聊芯片DFT测试之ATPG 日期：2022-04-22 13:37:26 点击：2427 好评：4
Test pattern generation (TPG) 是为给定故障模型生成test pattern的过程。如果我们通过详尽的测试，在最坏的情况下，我们可能需要 2n 个（其中 n 代表input的数量）分配来找到single stuck-at fault的...
[测试理论] ADC基础及测试详解 日期：2022-04-21 18:03:58 点击：5106 好评：16
本文的目的是介绍高速ADC相关的理论和知识，详细介绍了采样理论、数据手册指标、ADC选型准则和评估方法、时钟抖动和其它一些通用的系统级考虑。另外，一些用户希望通过交织、平...
[测试理论] 芯片测试科普 日期：2022-04-21 17:33:38 点击：5031 好评：45
作为一个芯片设计公司（fabless）,我们也非常关注集成电路产业链的各个环节，以此更好地给客户提供价值。 这次我们给大家说说芯片测试相关。 1、 测试在芯片产业价值链上的位置 如...
[测试理论] 50Ω阻抗问题详解及射频电路设计中的阻抗匹配问 日期：2022-04-20 14:27:03 点击：435 好评：8
为什么很多射频系统或者部件中，很多时候都是用50欧姆的阻抗。有时候这个值甚至就是PCB板的缺省值，为什么不是60或者是70欧姆呢？这个数值是怎么确定下来的，背后有什么意义？本...
[测试理论] 详解WAT（晶圆接受测试，Wafer Acceptance Test） 日期：2022-03-30 15:40:14 点击：3568 好评：4
以前做业务的时候，经常问同事，集成电路的工程师到底关注晶圆或者器件的什么性质，哪些性质是通过实验设备测得的，哪些可以是通过模拟仿真获得的。同事就说去看WAT或者集成电...
[测试基础理论] LDO的PSRR参数的几种测量方法 日期：2021-07-15 18:38:03 点击：1962 好评：18
LDO的PSRR参数是Power Supply Rejection Ratio的缩写，即电源纹波抑制比。它是指输入纹波与输出纹波的比值，通常是以对数形式表示。 PSRR=20*log[Ripple(VIN)/Ripple(VOUT)] 单位为分贝(dB)。例如，PSR...
