[可靠性测试] 丰富您的IC老化测试 日期：2023-01-29 13:26:03 点击：437 好评：6
芯片老化测试对于芯片测试至关重要，但是需要注意哪些要点，本次的文章，咱们就来聊一聊。根据以往的经验，我总结出了9个担忧，DFT工程师可以根据这9个点来思考并丰富您的芯片...
[可靠性测试] IC芯片可靠性测试 日期：2023-01-11 15:07:27 点击：686 好评：0
可靠性测试基本概念 质量:一组固有特性满足要求的程度质量是对满足程度的描述，满足要求的程度的高低反映为质量的好坏，在比较质量的优劣时，应注意在同一等级上进行比较可靠性:产品...
[可靠性测试] 集成电路芯片失效模式及分析详解 日期：2022-12-06 13:24:59 点击：1109 好评：0
集成电路芯片失效模式及分析详解 半导体封装工程师之家 2022-11-07 21:30 发表于 广东 欢迎咨询...
[可靠性测试] 车规芯片的AEC-Q100测试标准 日期：2022-12-05 15:24:27 点击：726 好评：10
车规芯片的AEC-Q100测试标准 原创 陈卓HNU 一名汽车电子硬件工程师 2022-09-06 22:50 发表于 广东 收录于合集 #芯片 1个 距离上一次发文章已经过去了10个月了，这10个月里，不想错过跟小孩待...
[可靠性测试] Wire Bond可靠性——高温老化期间引线键合空洞形 日期：2022-12-05 14:54:25 点击：556 好评：0
Wire Bond可靠性 高温老化期间引线键合空洞形成探讨 RFIC封装攻城狮之家 2022-09-26 00:22 发表于 广东 杨建生（天水华天科技股份有限公司） 摘要： 在金 - 铝金属间化合物相中形成的空洞，...
[测试元器件] MLCC的失效原因都有哪些？ 日期：2022-12-05 11:06:40 点击：476 好评：0
MLCC由陶瓷介质、端电极、金属电极三种材料构成。由于陶瓷的特性一般比较脆，所以会因为应力或温度导致破裂或与金属电极错位是MLCC失效的主要原因。陶瓷电容也同样会应为电应力...
[测试工程] 闩锁效应与“热插拔” 日期：2022-07-30 17:18:21 点击：1940 好评：8
闩锁就是指CMOS器件所固有的寄生可控硅（SCR）被触发导通，在电源与地之间形成低阻抗大电流通路的现象。这种寄生SCR结构存在于CMOS器件内的各个部分，包括输入端、输出端、内部反相器等。...
[测试理论] 线性电源LDO基础知识：电源抑制比 日期：2022-07-30 17:18:15 点击：572 好评：4
PSRR是一个常见的技术参数，在许多LDO datasheet里都能看到，他规定了在特定频率的交流信号从LDO输入到输出的衰减程度...
[测试设备] 超级全面的电容知识 日期：2022-07-30 17:08:35 点击：580 好评：2
电容是电路设计中最为普通常用的器件，是无源元件之一。有源器件简单地说就是需要能源的器件叫有源器件，不需要能源的器件就是无源器件。电容也常常在高速电路中扮演重要角色。 ...
[测试工程] 功率器件结温监测技术 日期：2022-07-30 16:51:42 点击：150 好评：0
新能源汽车领域是功率半导体行业的主要驱动力，相比传统汽车，新能源汽车需要用到更多功率半导体器件。2025年，国内汽车功率半导体市场规模将达250亿元，行业正迎来快速发展期。...
