[可靠性测试] 为您整理的九个芯片老化测试经验 日期：2023-02-10 13:29:25 点击：336 好评：0
芯片老化测试对于芯片测试至关重要 ，但是需要 注意些什么关键点，这次的文章内容 ，我们就来聊聊 。依据以往的经验 ，谷易电子为您总结出困扰 DFT技术工程师的问题 ,可根据这些...
[可靠性测试] 集成电路芯片的测试（ICtest）分类 日期：2023-02-08 15:37:24 点击：552 好评：0
个 集成电路芯片的测试（ICtest）分类包括： 分为晶圆测试（wafertest）、芯片测试（chiptest）和封装测试（packagetest）。 wafertest 是在晶圆从晶圆厂生产出来后，切割减薄之前的测试。其...
[可靠性测试] 芯片调测——ESD测试 日期：2023-02-01 14:08:23 点击：417 好评：2
先来谈静电放电(ESD: Electrostatic Discharge)是什么？这应该是造成所有电子元器件或集成电路系统过度电应力破坏的主要元凶。 因为静电通常瞬间电压非常高(几千伏)，所以这种损伤是毁灭...
[可靠性测试] 芯片封装的可靠性测试 日期：2023-01-31 14:16:20 点击：2698 好评：30
可靠性通常是指芯片封装组件在特定使用环境下以及一定时间内的损坏概率，换言之即表明组件的质量状况，也是电子产品未被商业化量产前与实际上市使用期间，产品性能和价值水平...
[可靠性测试] 丰富您的IC老化测试 日期：2023-01-29 13:26:03 点击：406 好评：6
芯片老化测试对于芯片测试至关重要，但是需要注意哪些要点，本次的文章，咱们就来聊一聊。根据以往的经验，我总结出了9个担忧，DFT工程师可以根据这9个点来思考并丰富您的芯片...
[可靠性测试] IC芯片可靠性测试 日期：2023-01-11 15:07:27 点击：628 好评：0
可靠性测试基本概念 质量:一组固有特性满足要求的程度质量是对满足程度的描述，满足要求的程度的高低反映为质量的好坏，在比较质量的优劣时，应注意在同一等级上进行比较可靠性:产品...
[可靠性测试] 集成电路芯片失效模式及分析详解 日期：2022-12-06 13:24:59 点击：980 好评：0
集成电路芯片失效模式及分析详解 半导体封装工程师之家 2022-11-07 21:30 发表于 广东 欢迎咨询...
[可靠性测试] 车规芯片的AEC-Q100测试标准 日期：2022-12-05 15:24:27 点击：667 好评：10
车规芯片的AEC-Q100测试标准 原创 陈卓HNU 一名汽车电子硬件工程师 2022-09-06 22:50 发表于 广东 收录于合集 #芯片 1个 距离上一次发文章已经过去了10个月了，这10个月里，不想错过跟小孩待...
[可靠性测试] Wire Bond可靠性——高温老化期间引线键合空洞形 日期：2022-12-05 14:54:25 点击：492 好评：0
Wire Bond可靠性 高温老化期间引线键合空洞形成探讨 RFIC封装攻城狮之家 2022-09-26 00:22 发表于 广东 杨建生（天水华天科技股份有限公司） 摘要： 在金 - 铝金属间化合物相中形成的空洞，...
[测试元器件] MLCC的失效原因都有哪些？ 日期：2022-12-05 11:06:40 点击：393 好评：0
MLCC由陶瓷介质、端电极、金属电极三种材料构成。由于陶瓷的特性一般比较脆，所以会因为应力或温度导致破裂或与金属电极错位是MLCC失效的主要原因。陶瓷电容也同样会应为电应力...
