[可靠性测试] 半导体老化测试的重要性以及两种测试方式和相 日期：2023-05-30 11:53:34 点击：293 好评：0
关键要点 老化测试是对半导体器件施加电应力和热应力以引起固有故障的尽早突显的测试方式。 在半导体中，故障一般可分为早期故障、随机故障或磨损故障。 老化测试的类型包括静...
[可靠性测试] 几种常见的芯片可靠性测试方法 日期：2023-05-25 10:59:31 点击：824 好评：0
芯片可靠性测试的种类 2.高温存储测试 3.跌落测试...
[可靠性测试] 四种老化测试方案以及对应的测试标准 日期：2023-05-22 16:31:44 点击：532 好评：0
高温工作寿命 (HTOL) 测试 高温工作寿命（HTOL）测试是通过加速热激活失效机制来确定产品的可靠性。客户零件在有偏差的操作条件下会受到高温的影响。通常，动态信号被施加到处于压...
[可靠性测试] 关于芯片研发过程中的可靠性测试 日期：2023-05-19 17:40:44 点击：309 好评：4
芯片的质量主要取决于 市场、性能和可靠性因素 。 首先，在芯片开发的早期阶段，需要对市场进行充分的研究，以定义 满足客户需求的SPEC ；其次是 性能 ，IC设计工程师设计的电路需...
[可靠性测试] 芯片可靠性要求及商规、工规、车规 日期：2023-05-19 10:02:46 点击：694 好评：0
在芯片的国产化浪潮下，国产芯片的出货量和替代率近年来迅速飙升。按出货量比率看，消费电子领域，电源管理芯片和射频前端芯片国产替代率已超过70%；工控通信领域，电源管理和...
[可靠性测试] 一文理解芯片可靠性测试项目 日期：2023-05-18 16:23:20 点击：3808 好评：28
高温工作寿命（HTOL, High Temperature Operating Life） HTOL是一种常见的半导体器件可靠性测试方法，用于评估芯片在高温和电压条件下的长期稳定性和寿命。该测试通过在高温下加速芯片老化...
[可靠性测试] 激光器芯片的寿命可靠性问题 日期：2023-05-15 10:48:52 点击：313 好评：0
激光芯片的可靠性是一项十分关键的指标，无论是小功率的激光笔还是要求较高的激光通信芯片，都需要进行芯片的老化和可靠性的测试。 相比于传统的电子类的芯片，激光的测试比较...
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[可靠性测试] 从流程到方法，详解芯片老化测试 日期：2023-05-15 10:19:37 点击：822 好评：0
芯片老化测试是评估芯片可靠性的重要方法之一，它在设计、制造和维护芯片产品的生命周期中具有至关重要的作用。芯片老化测试是通过模拟芯片在长时间使用过程中受到的各种环境...
[可靠性测试] IGBT 可靠性与寿命评估研究 日期：2023-05-12 13:51:39 点击：584 好评：0
《汽车电器》 摘要 IGBT作为新能源汽车电机控制器的核心部件，直接决定了电动汽车的安全性和可靠性。本文主要介 绍采用热敏感电参数法提取IGBT结温，并结合CLTC等试验工况得出对应...
[可靠性测试] 老化验证和封装形式有关系吗？ESD测试与寄生电 日期：2023-05-11 13:43:26 点击：199 好评：0
以下题目来自芯片检测尖端技术线上研讨观众的踊跃提问，可靠性验证相关题目，请RA实验室主管Nily来为各位解答。 Q1 老化验证和封装形式有关系吗？ A: 无关，任何形式的封装，皆需...
