[测试基础理论] 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析 日期：2009-08-18 16:56:51 点击：1610 好评：307
摘要:介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括电气特性测试原理和功能测试原理，详细地介绍了通 用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以一个功能较为...
[测试基础理论] 无向量测试是测试高速I/O的最佳方法 日期：2009-07-03 16:51:14 点击：448 好评：372
大批量半导体芯片制造商必须解决以下这道难题，即如何经济高效地测试嵌入在大型数字系统级芯片设计中的多个多通道高速I/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。虽然结合了闭...
[测试基础理论] 专用集成电路测试技术 日期：2009-06-18 16:49:11 点击：692 好评：396
随着集成电路的规模越来越大, 测试问题也日益尖锐地摆在了芯片设计师们的面前。流片结束之后的芯片测试与电路设计阶段的电路模拟不同, 电路模拟验证电路的设计是否正确, 而芯片...
[测试基础理论] An.Introduction.To.Mixed-Signal.Ic.Test.And.Measurement 日期：2009-05-18 16:52:51 点击：2136 好评：423
本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法，是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的...
[测试基础理论] 国外电子与通信教材系列—超大规模集成电路测 日期：2009-05-18 16:14:12 点击：981 好评：469
超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统国外电子与通信教材系列 作 者： （美）布什内尔（Bushnell,M.L.） 等著，蒋安平 等译 出 版 社： 电子工业出版社 出版时间： 200...
[测试基础理论] A/D转换芯片的测试环境构成及测试方法 日期：2009-05-08 16:58:53 点击：649 好评：275
A/D转换芯片的测试环境构成及测试方法 文章作者：陈莉莉 周 斌 文章出处：电子技术应用 摘要：介绍了通过Labview编程环境，运用系统集成的方法，集成具有GPIB接口的测试设备，实现数...
[测试基础理论] IC测试问答题 日期：2009-01-28 10:35:17 点击：993 好评：459
一份不错的测试问答题，面试的同学可以看看： FY93-IC 封測人才培訓評量--勤益測試培訓班(一) - 1 - 共8 頁 工業技術研究院系統晶片技術發展中心 選擇題請將答案填至括號內，非選擇題...
[测试基础理论] 半导体测试基础 日期：2008-12-14 12:39:29 点击：8779 好评：475
半导体测试基础 基础术语 描述半导体测试的专业术语很多，这里只例举部分基础的： 1． DUT 需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test，我们常简称被测器件），或者叫...
[开发经验] 浅谈基于ATE的IC测试精确度及稳定性问题 日期：2008-12-10 21:19:09 点击：2120 好评：797
随着IC产业的飞速发展，IC的复杂度及其电气参数的性能也日益提高，同时也给IC测试带来了众多难题，其中测试的精确度及稳定性是一直困扰工程师的两大难题，尤其在量产ATE测试时表...
[芯片制造] 有关芯片trim之poly fuse 和metal fuse 日期：2008-11-18 21:41:11 点击：9625 好评：781
传统的Fuse主要有三种：以大电流烧断的金属熔线(Metal Fuse)和多晶硅熔线(Poly Fuse)，或是以激光烧断之金属熔线(Laser Fuse)。Fuse为电子产品中之关键性零组件，其功能为掌管备用内存(Redu...
