[测试基础理论] 大规模集成电路测试方法研究-边界扫描测试方法 日期：2010-03-02 15:27:55 点击：3300 好评：360
目 录 1 边界扫描测试方法 1 1.1边界扫描基本状况1 1.2 IEEE STD 1149.1 1 1.3 IEEE STD 1149.4 3 1.4 IEEE STD 1149.5 5 1.5 IEEE STD 1149.6 6 1.6边界扫描测试的发展前景 9 1.7 本章小结 9 2 全扫描可测试性实现方...
[测试基础理论] 总谐波失真简介 日期：2010-01-14 10:11:44 点击：575 好评：463
总谐波失真是指用信号源输入时，输出信号比输入信号多出的额外谐波成分。谐波失真是由于系统不是完全线性造成的，它通常用百分数来表示。所有附加谐波电平之和称为总谐波失真...
[测试基础理论] TI内部测试培训资料 日期：2009-11-14 12:47:17 点击：223 好评：451
本文为国际大公司--TI 的内部培训资料，共分几章，分别讲述模拟测试方法、线性ＬＤＯ测试、运放测试、DAC及ADC测试，虽然为英文资料，但讲的通俗易懂，值得研读一下，强烈推荐！...
[测试基础理论] 蓝牙收发器IC测试 日期：2009-11-05 10:24:55 点击：1407 好评：659
蓝牙规范的第一个正式版本1.0版已于1999年7月发布，之后许多厂商都推出了支持蓝牙产品的高性价比集成电路芯片。随着蓝牙产品越来越普及，制造商需要以较低的成本完成大量测试工...
[测试基础理论] 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析 日期：2009-08-18 16:56:51 点击：2084 好评：305
摘要:介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括电气特性测试原理和功能测试原理，详细地介绍了通 用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以一个功能较为...
[测试基础理论] 无向量测试是测试高速I/O的最佳方法 日期：2009-07-03 16:51:14 点击：553 好评：372
大批量半导体芯片制造商必须解决以下这道难题，即如何经济高效地测试嵌入在大型数字系统级芯片设计中的多个多通道高速I/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。虽然结合了闭...
[测试基础理论] 专用集成电路测试技术 日期：2009-06-18 16:49:11 点击：785 好评：396
随着集成电路的规模越来越大, 测试问题也日益尖锐地摆在了芯片设计师们的面前。流片结束之后的芯片测试与电路设计阶段的电路模拟不同, 电路模拟验证电路的设计是否正确, 而芯片...
[测试基础理论] An.Introduction.To.Mixed-Signal.Ic.Test.And.Measurement 日期：2009-05-18 16:52:51 点击：2524 好评：425
本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法，是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的...
[测试基础理论] 国外电子与通信教材系列—超大规模集成电路测 日期：2009-05-18 16:14:12 点击：1151 好评：469
超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统国外电子与通信教材系列 作 者： （美）布什内尔（Bushnell,M.L.） 等著，蒋安平 等译 出 版 社： 电子工业出版社 出版时间： 200...
[测试基础理论] A/D转换芯片的测试环境构成及测试方法 日期：2009-05-08 16:58:53 点击：756 好评：275
A/D转换芯片的测试环境构成及测试方法 文章作者：陈莉莉 周 斌 文章出处：电子技术应用 摘要：介绍了通过Labview编程环境，运用系统集成的方法，集成具有GPIB接口的测试设备，实现数...
