[测试基础理论] 半导体分立器件参数的脉冲测试 日期：2014-05-24 21:01:53 点击：1764 好评：334
半导体分立器件参数的脉冲测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 钟晓红 内 容 摘 要 本文介绍了半导体分立器件参数脉冲测试的必要性，有关标准对脉冲测试的要求及实现的方法。并介绍...
[测试基础理论] IC测试QQ群(111938408)经典讨论---关于pattern 日期：2014-02-19 19:40:55 点击：2901 好评：319
argee 12:31:12 饭后说说pattern，从TE角度，pattern还是要理解的，否则没办法调试 argee 12:32:29 pattern从VCD,WGL，STIL转化过来，也有纯手工写的 鹏程兄弟 12:33:52 继续 argee 12:34:12 pattern的一行你可...
[开发经验] 小电流（高电阻）的测量技巧 日期：2013-04-18 20:30:16 点击：2938 好评：813
小电流的定义 IC测试机因为是高端测量，会受到内部开关，引线，pcb板等影响，所以最小电流量程一般为1UA左右；JUNO机等一些分立器件专用测试机，采用低端测量，加上特殊的布线等方...
[测试基础理论] 关于wafer测试的一些知识 日期：2012-04-16 21:28:42 点击：4325 好评：507
每颗IC在后工序之前都必须进行CP（Chip Prober），以验证产品的功能是否正常，并挑出不良的产品和区分性能等级。 CP主要设备包括测试机（Tester）和探针台（Prober）。 测试机 主要包括...
[测试基础理论] IC测试基础培训资料 日期：2011-11-06 18:43:04 点击：298 好评：468
本文由国内IC资深测试工程师孙鹏程编写，资料图文并茂，浅显易懂，非常适于初学者培训，强烈推荐！！！ IC测试培训 第一章IC测试基础知识 By 孙鹏程2009-8-8 本章要点 1.1 什么是IC测试...
[测试基础理论] ADC静态参数INL DNL的定义及其测试方法 日期：2010-09-16 20:46:07 点击：4404 好评：771
近来，具有出色静态和动态特性的高性能模数转换器（ADC）层出不穷。本文将聚焦于有关ADC两个重要的精度参数的测量技术：积分非线性（INL）和微分非线性（DNL）。对应用于通信和高...
[测试基础理论] ADSL单端环路测试简述 日期：2010-09-16 15:05:57 点击：471 好评：357
DSL作为一种基于普通电话双绞线的传输技术，对物理传输线路有很大的依赖性。环路的特征将对 DSL 服务的质量和性能级别产生决定性的影响。运营商总是希望能在接受客户申请并收费...
[测试基础理论] 大容量存储器芯片的低成本测试方案 日期：2010-09-13 15:10:24 点击：991 好评：346
目前国内电脑内存条及配套产品、语言复读机、ＤＶＤ机以及数码相机、数码录音、ＭＰ３等方面，对存储器电路需求量超过８０００万只，随着各类电子产品的数码化和大容量化，对...
[测试基础理论] 浅谈laser trimming特点及其应用 日期：2010-09-08 20:52:03 点击：3777 好评：859
采用先进的激光工艺，对硅上集成电路进行修调（trimming）时，不需要物理接触，可以大大减少电路上pad的数目；同时，激光修调工艺可以实现对电路中的薄膜电阻阻值高精密的调整，...
[模拟芯片] 通用运算放大器主要参数测试方法说明 日期：2010-08-24 11:12:56 点击：6011 好评：804
运算放大器是模拟器件的核心，熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础，掌握了运放的测试，其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚，所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位，故劝各位...
