[测试基础理论] 芯片测试的几个术语及解释（CP、FT、WAT） 日期：2016-09-22 11:34:36 点击：11601 好评：1812
CP 是把坏的 Die 挑出来，可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道 Wafer 的良率。 FT 是把坏的 chip 挑出来；检验封装的良率。 现在对于一般的 wafer 工艺，很多公司多把 CP 给省了；...
[测试基础理论] 非常详细的开关电源原理与设计讲义（60页PPT) 日期：2016-09-22 10:12:42 点击：1177 好评：211
开关电源基本原理与设计...
[测试基础理论] 高速数字信号管脚的常用测试方法 日期：2015-09-06 21:52:03 点击：2445 好评：265
一直都没有机会聊具体的测试技术 , 今天就开始聊一下 . 介绍下高速数字信号管脚的常用测试方法 目前越来越多的 SOC 芯片都会有高速的数字信号管脚 , 常见的如 LVDS,HDMI 以及 PCIe 等信...
[测试基础理论] 浅谈DC/AC SCAN测试 日期：2015-09-06 21:24:21 点击：10194 好评：375
SCAN 技术，也就是 ATPG 技术 -- 测试 std-logic, 主要实现工具是：产生 ATPG 使用 Mentor 的 TestKompress 和 synopsys TetraMAX ；插入 scan chain 主要使用 synopsys 的 DFT compiler 通常，我们所说的 DCSCAN 就是...
[测试基础理论] 数字信号与模拟信号的区别 日期：2015-09-06 21:20:00 点击：1015 好评：239
模拟数据(Analog Data)是由传感器采集得到的连续变化的值，例如温度、压力，以及目前在电话、无线电和电视广播中的声音和图像。 数字数据(Digital Data)则是模拟数据经量化后得到的离散...
[测试基础理论] 测试基础篇-电容与电感对电流测试的影响 日期：2015-09-05 16:16:31 点击：1581 好评：265
说起测试，最基本的就是电压和电流的测试，对于比较理想的条件下，电压和电流的测试是比较容易的，借助测试V/I源，我们可以很方便的对电压和电流进行测试。 然而，在实际的测试...
[测试基础理论] 开短路测试基本原理 日期：2015-04-15 22:34:10 点击：10275 好评：455
开短路测试，是测试工程师需要掌握的最基本的技能，通常被称为continuitytest 或者open/short test。开短路测试的原理，其实是基于产品本身管脚的ESD防静电保护二极管的正向导通压降的原...
[测试基础理论] 开尔文测试基本原理 日期：2015-04-15 22:28:05 点击：7042 好评：393
开尔文测试方法，是模拟电路测试常用的测试方法之一，又叫开尔文四线检测（Kelvin Four-terminal sensing），也被称之为四端子检测（4T检测， 4T sensing）。四线检测也被称为开尔文（Kelvi...
[测试基础理论] 关于Cpk的一些知识 日期：2014-05-30 09:22:02 点击：13344 好评：319
关于 Cpk 的一些常识 现在很多的客户要求了解你生产设备的能力，都要求看你的Cpk值。什么是Cpk值？我这里传载一些介绍给大家，要详细的了解，还是要看SPC。 SPC相关术语解释 您知道...
[测试基础理论] 集成稳压器调整率参数的测试 日期：2014-05-24 21:23:29 点击：1999 好评：344
集成稳压器调整率参数的测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 赵建平 摘要 本文介绍了集成稳压器调整率参数的测量原理和方法，分析了影响调整率参数测量精度的各种原因以及为此而采...
