欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408
注册
|
登录
|
高级搜索
|
网站地图
|
[
设为首页
] [
加入收藏
]
网站首页
测试工程
测试理论
测试实例
测试设备
相关技术
经验分享
测试研讨会
测试论坛
业界新闻
职业规划
拓展业务
关于我们
搜索
检索标题
智能模糊
搜索
热门标签:
TR6850
eeprom
ASL1000
IDDQ
LCD driver
ACCOTEST
Kalos
FA
csp测试
封装测试
当前位置:
网站主页
>
测试理论
>
测试基础理论
>
[
混合信号芯片
]
通信类SoC-Base Band测试方案
日期:
2005-02-25 09:33:32
点击:
1318
好评:
691
通信类SoC测试方案Base Band 徐勇,魏炜,川端雅之,小圆祐一,浅见幸司 ADVANTEST 摘要:本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题,在此将介绍基于...
首页
上一页
10
11
12
13
14
15
末页
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
共
15
页
141
条
栏目列表
测试基础理论
芯片相关原理
测试设备原理
其他
热文排行
关于Cpk的一些知识
芯片测试的几个术语及解释(CP、
集成电路芯片测试小结
开短路测试基本原理
浅谈DC/AC SCAN测试
半导体测试基础
开尔文测试基本原理
ADC静态参数INL DNL的定义及其测试方
本类推荐
芯片出厂前测试概述
电源测试
芯片测试相关的基础知识(三)
芯片测试相关的基础知识(二)
芯片测试相关的基础知识(一)
LED显示屏EMC改进的几种方法
BUCK-BOOST 拓扑电源原理及工作过程解
几种高效的电路分析方法