[测试基础理论] 浅谈laser trimming特点及其应用 日期：2010-09-08 20:52:03 点击：4226 好评：859
采用先进的激光工艺，对硅上集成电路进行修调（trimming）时，不需要物理接触，可以大大减少电路上pad的数目；同时，激光修调工艺可以实现对电路中的薄膜电阻阻值高精密的调整，...
[模拟芯片] 通用运算放大器主要参数测试方法说明 日期：2010-08-24 11:12:56 点击：6456 好评：804
运算放大器是模拟器件的核心，熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础，掌握了运放的测试，其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚，所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位，故劝各位...
[开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期：2010-08-15 20:54:47 点击：1534 好评：842
冯蕊，于祥苓，周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳ll0032) 摘要：介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...
[测试基础理论] 半导体测试技术 日期：2010-08-15 15:23:02 点击：1959 好评：350
本书详细介绍了半导体测试技术，主要针对晶圆测试技术，如PCM相关参数测试，方块电阻测试，晶圆缺陷等，另外详细讲解了测试技术，是本不错的半导体测试方面的参考书籍，非常值...
[测试基础理论] IDDQ测试解析 日期：2010-08-13 15:13:06 点击：2727 好评：366
IDDQ测试在大规模集成电路测试中尤为重要，本文将详细阐述IDDQ测试原理，测试方法。 IDDQ TUTORIAL Goals: To show how a quiescent current supply test, Iddq, contributes to ICdefect isolation. To understand the c...
[测试基础理论] 差分信号介绍--intel内部培训资料 日期：2010-08-10 20:13:31 点击：983 好评：832
本文详细介绍了差分信号的各种特性，从原理，PCB设计，仿真等各方面阐述了差分信号的特点，为intel内部培训资料，不可多得，值得参考，强烈推荐，以下为资料主要内容： Different...
[测试基础理论] Arithmetic Built-in Self Test for Embedded Systems 日期：2010-07-10 15:36:45 点击：111 好评：406
本书详细介绍了超大规模集成电路的内建自测试的原理，方法，是一本非常难得的IC测试书籍，被誉为IC测试必备书籍之一。本书为英文版资料，适合具有一定测试基础的IC测试工程师阅...
[测试基础理论] memory原理及测试介绍 日期：2010-07-07 16:04:50 点击：4270 好评：420
本站收集了一些memory测试资料，其中包括memory原理及测试介绍，另外包括一个测试程序的demo，以供测试工程师参考。详见如下： Memory Testing and Pattern Introduction Brief Introduction Memory Clas...
[测试基础理论] 大规模集成电路测试方法研究-边界扫描测试方法 日期：2010-03-02 15:27:55 点击：3217 好评：360
目 录 1 边界扫描测试方法 1 1.1边界扫描基本状况1 1.2 IEEE STD 1149.1 1 1.3 IEEE STD 1149.4 3 1.4 IEEE STD 1149.5 5 1.5 IEEE STD 1149.6 6 1.6边界扫描测试的发展前景 9 1.7 本章小结 9 2 全扫描可测试性实现方...
[测试基础理论] 总谐波失真简介 日期：2010-01-14 10:11:44 点击：559 好评：463
总谐波失真是指用信号源输入时，输出信号比输入信号多出的额外谐波成分。谐波失真是由于系统不是完全线性造成的，它通常用百分数来表示。所有附加谐波电平之和称为总谐波失真...
