[测试基础理论] ADSL单端环路测试简述 日期：2010-09-16 15:05:57 点击：593 好评：357
DSL作为一种基于普通电话双绞线的传输技术，对物理传输线路有很大的依赖性。环路的特征将对 DSL 服务的质量和性能级别产生决定性的影响。运营商总是希望能在接受客户申请并收费...
[测试基础理论] 大容量存储器芯片的低成本测试方案 日期：2010-09-13 15:10:24 点击：1111 好评：346
目前国内电脑内存条及配套产品、语言复读机、ＤＶＤ机以及数码相机、数码录音、ＭＰ３等方面，对存储器电路需求量超过８０００万只，随着各类电子产品的数码化和大容量化，对...
[测试基础理论] 浅谈laser trimming特点及其应用 日期：2010-09-08 20:52:03 点击：4294 好评：859
采用先进的激光工艺，对硅上集成电路进行修调（trimming）时，不需要物理接触，可以大大减少电路上pad的数目；同时，激光修调工艺可以实现对电路中的薄膜电阻阻值高精密的调整，...
[模拟芯片] 通用运算放大器主要参数测试方法说明 日期：2010-08-24 11:12:56 点击：6568 好评：804
运算放大器是模拟器件的核心，熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础，掌握了运放的测试，其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚，所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位，故劝各位...
[开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期：2010-08-15 20:54:47 点击：1569 好评：842
冯蕊，于祥苓，周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳ll0032) 摘要：介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...
[测试基础理论] 半导体测试技术 日期：2010-08-15 15:23:02 点击：1993 好评：350
本书详细介绍了半导体测试技术，主要针对晶圆测试技术，如PCM相关参数测试，方块电阻测试，晶圆缺陷等，另外详细讲解了测试技术，是本不错的半导体测试方面的参考书籍，非常值...
[测试基础理论] IDDQ测试解析 日期：2010-08-13 15:13:06 点击：2803 好评：366
IDDQ测试在大规模集成电路测试中尤为重要，本文将详细阐述IDDQ测试原理，测试方法。 IDDQ TUTORIAL Goals: To show how a quiescent current supply test, Iddq, contributes to ICdefect isolation. To understand the c...
[测试基础理论] 差分信号介绍--intel内部培训资料 日期：2010-08-10 20:13:31 点击：1017 好评：832
本文详细介绍了差分信号的各种特性，从原理，PCB设计，仿真等各方面阐述了差分信号的特点，为intel内部培训资料，不可多得，值得参考，强烈推荐，以下为资料主要内容： Different...
[测试基础理论] Arithmetic Built-in Self Test for Embedded Systems 日期：2010-07-10 15:36:45 点击：111 好评：406
本书详细介绍了超大规模集成电路的内建自测试的原理，方法，是一本非常难得的IC测试书籍，被誉为IC测试必备书籍之一。本书为英文版资料，适合具有一定测试基础的IC测试工程师阅...
[测试基础理论] memory原理及测试介绍 日期：2010-07-07 16:04:50 点击：4326 好评：420
本站收集了一些memory测试资料，其中包括memory原理及测试介绍，另外包括一个测试程序的demo，以供测试工程师参考。详见如下： Memory Testing and Pattern Introduction Brief Introduction Memory Clas...
