2.3.4.1如何处理不可测试的故障
　　解决上述不可测试故障的方法有多种，针对图4-13，此处给出常用的两种。
方法1：增加一个上拉电阻（如图4-15）。通过上拉电阻，一个悬空的总线可以被上拉到一个弱1。这样图4-13中所示的SA0故障就可以用通常的方法进行测试了。采用这种方法的缺陷是引入了静态功耗。与方法2相比，优点在于采用的测试向量个数较少。

方法二：增加一个总线保持单元（Bus Keeper）
采用这种方法，需要两个连续的测试向量实现图4-13中所示的SA0故障诊断。第一个测试向量将一个初始数据打入总线数据保持单元（Bus Keeper），用来覆盖第二个测试向量在输出端产生的高阻值Z。在图4-16中，用第一个测试向量110将Bus 

　　Keeper置为弱1，当第二个测试向量施加到输入端时，如果上述SA0故障存在，则由Bus Keeper提供的1作为输出，如果电路不存在此故障，则输出0电平。采用这种方法的缺陷是，增加了ATPG的数量，好处是故障覆盖率较高。 
2.3.4.2在扫描移位过程中出现的总线争用（Contention）

　　由于一些扫描移位寄存器Q端与三态输出的使能端相连，造成三态输出总线上的输出信号会不断发生变化，如图4-17所示。在通常情况下，这些扫描移位寄存器中的数据往往是不可预测的。因此，三态输出端的输出电流会对与之相连的电路产生影响。虽然这种现象不会影响故障覆盖率，但是潜在着损坏器件的危险。解决这种问题的办法有三种，分别如图4-18、4-19、4-20所示。

方法1（图4-18）：增加一些控制逻辑。在图中使用的是一些与门。通过使用扫描使能信号SE，使得与输出三态引脚相连的三态缓冲器中只有一个可以将数据送出，其它三态缓冲器全部为高阻状态。因此，可以有效的避免测试过程中损坏器件。
方法2（图4-19）：引入一个解码器。该解码器可以解码三态使能端，使得在任一时刻，只有一个三态缓冲器是导通状态，其它缓冲器均为高阻状态。另外，也可以采用类似于方法1的办法，让所有的三态缓冲器在扫描移位过程中都处于高阻状态。
方法3（图4-20）：该种方法是采用独热码。在任一时刻，只有一个三态缓冲器是导通状态，其它缓冲器均为高阻状态。显然，采用这种测试向量，不一定适用于被测试电路。

2.3.4.3在捕获响应的时候出现的总线争用（Contention）
如何避免在捕获响应的时候出现总线争用？可以采取以下四种方法：
（1） 使ATPG工具丢弃所有导致总线争用的所有测试向量；
（2） 在图4-18所示的方法中，使用ASIC_TEST引脚取代SE引脚来控制三态使能。虽然这样可以避免总线争用，但是会降低故障覆盖率（因为ASIC_TEST在测试响应捕获期间为高电平，在它封锁的与门输入端的固定型故障将无法传送到输出端）；
（3） 通过一个独热码测试模式寄存器来控制三态使能；
（4） 全解码三态使能（不需要检查总线争用）。