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  • [测试理论] 边界扫描-Boundary Scan技术及其在芯片测试中的应用 日期:2023-08-20 10:39:00 点击:471 好评:0

    一:Boundary Scan的基本概念及应用 二:Boundary Scan的硬件实现 1-JTAG的概述 2-使用JTAG的好处...

  • [测试理论] 万文长字带你搞懂JTAG的门门道道 日期:2023-08-20 09:58:43 点击:612 好评:0

    前言 JTGA这个东西IC和嵌入式靓仔们肯定是有用过的,但是对于JTAG内部的东西,以及实现如果不了解的,可以看看这篇文章。 之前和coresight有了解过的靓仔,了解了对于ARM内部的调试,...

  • [测试理论] 线上出现BUG,该怎么办! 日期:2023-08-09 18:30:03 点击:241 好评:0

    在讲解故障处理思路前,先讲一个故障场景(以呼叫中心系统作为一例子): 业务人员反映呼叫中心系统运行缓慢,部份电话在自助语言环节系统处理超时,话务转人工座席,人工座席...

  • [测试理论] 测试工程师的感受总结 日期:2023-07-22 18:21:56 点击:238 好评:2

    软件测试人员应该居安思危 每当经济不好,公司业绩不好的时候,公司都可能进行裁员。首先裁的就是测试人员。因为测试人员的技术水平相对来说比较低,容易被替代,招起来也比较...

  • [测试理论] DC-DC芯片PCB布局及注意事项 日期:2023-07-10 18:04:34 点击:285 好评:0

    在DCDC电源电路中,PCB的布局对电路功能的实现和良好的各项指标来说都十分重要。本文以buck电路为例,简单分析一下如何进行合理PCB layout布局以及设计中的注意事项。如有问题,欢迎...

  • [测试理论] 半导体生产制造中都有哪些测试环节? 日期:2023-06-25 14:56:47 点击:248 好评:2

    测试环节贯穿半导体生产制造,是芯片质量的把关者 半导体工艺制程越来越复杂,检测设备愈发重要。随摩尔定律的进一步发展,半导体芯片 晶体管密度越来越高,相关产品复杂度及...

  • [测试理论] 可测试性设计(DFT)与可检验性设计(DFI)之间 日期:2023-06-25 14:41:55 点击:284 好评:0

    可测试性设计(Design for Test,DFT)和可检验性设计(Design for Inspection,DFI)是两种用于增强产品的测试和检验能力的设计方法。下面是它们的区别与联系,包括维基百科的定义: 可测试...

  • [测试理论] 产品为什么要老化? 日期:2023-06-20 09:26:47 点击:240 好评:0

    为什么每个通信产品都需要老化?刚入门的时候大家都有这个疑惑。久而久之,大家都了解到了老化可以使产品更加稳定,但是这里面有什么道道呢? 老化的方式有哪些? 常规通信产...

  • [测试基础理论] 电源测试 日期:2023-06-19 14:32:56 点击:363 好评:0

    常见的芯片测试,包括电气特性,稳态和交叉条件,开关机,保护,管脚波形以及高低温测 试。 一、效率测试 1. 对比性能,优选方案 2. 评估系统负荷,考虑散热措施 3. 分析损耗,提...

  • [测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识(三) 日期:2023-06-15 14:44:38 点击:464 好评:0

    四、如何进行一个产品的测试开发 各种规格书:通常有三种规格书,设计规格书、测试规格书、产品规格书。 设计规格书,是一种包含新电路设计的预期功能和性能特性的定义的文档...

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