[测试理论] 芯片测试 日期：2024-08-31 16:06:00 点击：562 好评：6
本文就芯片测试做一个详细介绍。 芯片的测试大致可以分成两大部分。CP(chip probering)和FT(final test)。某些芯片还会进行SLT（system leve test）。还有一些特定要求的芯片，需要一些可靠性测...
[测试基础理论] 芯片验证】UVM源码计划（三） —— 从copy看obje 日期：2024-08-24 18:22:00 点击：355 好评：2
【芯片验证】UVM源码计划（二） 一起研究下create/clone/copy 在本篇开始前先补充一位大佬关于上一篇的评论，详情可在阅读原文的评论区查看： 感谢指正与指导，果然芯片验证这件事深...
[芯片相关原理] 浅谈Buck电路与降压DC-DC转换芯片(三) 日期：2024-08-13 21:26:00 点击：528 好评：2
上周笔者写到了Buck电路的工作模式和控制模式，本周会再梳理一下Buck电路的调制模式。那么，首先也还是要声明一下调制模式的概念，如果说工作模式主要是指主电路功率器件的工作...
[芯片相关原理] 浅谈Buck电路与降压DC-DC 转换芯片(二) 日期：2024-08-13 20:09:00 点击：581 好评：4
转眼一周又过去了，计划表一骑绝尘，行动力却难望其项背。当真准备查资料继续做起来的时候，却发现看起来一个简单的电路诸如Buck，也是非常多的门道非常多的知识之前好似未曾涉...
[测试理论] AEC-Q-CDM测试 日期：2024-04-16 20:28:55 点击：337 好评：2
CDM（Electrostatic Discharge Charged Device Model）充电器件模型与HBM（人体放电模型）和MM（机器放电模型）有所不同。在CDM模型中，电路本身在组装或运输过程中被充电，当接触到地或其他导体...
[测试设备原理] AEC-Q100车规芯片验证G5：DROP - Package Drop封装跌落 日期：2024-03-15 20:17:00 点击：495 好评：2
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件，本文将重点对G组的第5项DROP - Package Drop封装跌落测试项目进行介绍。 AEC Q100 表格2中G组内容 DROP - Package Drop封装跌落 我们...
[测试设备原理] AEC-Q100车规芯片验证G6：LT - Lid Torque封盖扭矩 日期：2024-03-15 19:37:00 点击：337 好评：2
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件，本文将重点对G组的第6项LT - Lid Torque封盖扭矩测试项目进行介绍。 AEC Q100 表格2中G组内容 LT - Lid Torque 封盖扭矩 我们先看一...
[测试设备原理] 车规芯片认证标准-AEC Q100 REV J最新版更新内容汇 日期：2024-03-15 19:01:13 点击：495 好评：2
AEC-Q100最新的版本是Rev_J，刚刚发布于2023年8月，因为之前本人翻译了Rev H版本，借此机会也开始进行J版本的更新翻译。 AEC Q100 Rev J版本的封面 全文翻译工作正在进行，完成后会发布出来...
[测试理论] Power_Short测试 日期：2024-01-10 13:39:27 点击：2691 好评：30
Power short测试也是OS测试的一种，它测量的是电源pin short。为什么测量的是short，而不是open呢？如果电源pin出现open和short这两种情况，那么哪一种后果更严重呢？可想而知是short对芯片的...
[测试理论] MEMS芯片简介及测试 日期：2023-12-30 19:14:00 点击：612 好评：2
01 什么是MEMS MEMS是Micro-Electro-Mechanical System的缩写，微电子机械系统。MEMS传感器感知环境中的各类自然信号，按一定规律将其转换成可检测量化的信号，对所得到的信号进行分析处理和...
