[测试设备原理] 车规芯片认证标准-AEC Q100 REV J最新版更新内容汇 日期：2024-03-15 19:01:13 点击：431 好评：4
AEC-Q100最新的版本是Rev_J，刚刚发布于2023年8月，因为之前本人翻译了Rev H版本，借此机会也开始进行J版本的更新翻译。 AEC Q100 Rev J版本的封面 全文翻译工作正在进行，完成后会发布出来...
[测试理论] Power_Short测试 日期：2024-01-10 13:39:27 点击：2298 好评：26
Power short测试也是OS测试的一种，它测量的是电源pin short。为什么测量的是short，而不是open呢？如果电源pin出现open和short这两种情况，那么哪一种后果更严重呢？可想而知是short对芯片的...
[测试理论] MEMS芯片简介及测试 日期：2023-12-30 19:14:00 点击：548 好评：2
01 什么是MEMS MEMS是Micro-Electro-Mechanical System的缩写，微电子机械系统。MEMS传感器感知环境中的各类自然信号，按一定规律将其转换成可检测量化的信号，对所得到的信号进行分析处理和...
[测试理论] 量产测试方案制定 日期：2023-12-29 22:12:44 点击：585 好评：2
量产测试方案是指在产品开发完成后，针对产品进行大规模的生产测试的计划与方案。通过量产测试方案，可以验证该产品的可靠性、稳定性、耐久性以及安全性等重要性能指标，从而...
[测试理论] 芯片测试：系统级测试（SLT）详解 日期：2023-11-07 18:53:23 点击：1994 好评：18
Perface 在IC封测中我们常常会听到：SLT、EVB、ATE这几个名词。它们之间的区别简要如下： ATE(Auto Test Equipment) 在测试工厂完成. 大致是给芯片的输入管道施加所需的激励信号 ，同时监测芯...
[测试理论] 芯片测试：WAT、CP、FT 日期：2023-10-25 16:53:41 点击：1856 好评：12
正文 CP是把坏的Die挑出来，可以减少封装和测试的成本 。可以更直接的知道Wafer 的良率。 FT是把坏的chip挑出来；检验封装的良率 。 现在对于一般的wafer工艺，很多公司多把CP给省了，...
[测试理论] 你真的懂IC测试吗？ 日期：2023-09-26 19:03:31 点击：739 好评：10
从IDM到垂直分工，IC产业专业化分工催生独立测试厂商出现。集成电路产业从上世纪60年代开始逐渐兴起，早期企业都是IDM运营模式（垂直整合），这种模式涵盖设计、制造、封测等整个...
[测试理论] 一个BUCK电源电路设计测试过程 日期：2023-09-23 18:29:06 点击：909 好评：0
一、元件选型 1 芯片选型 2 电容选型 3 电感选型 4 电阻选型 二、电源测试 1 电源 PDN 和纹波噪声 1.1 电源 PDN 1.2 电源纹波和电源噪声 2 常见的纹波噪声测试方案 2.1 纹波噪声测试基本要求...
[芯片相关原理] 芯片Power Artist功耗仿真工具：原理、方法与挑战 日期：2023-09-19 19:32:00 点击：1352 好评：0
Simulation ,ChrisDonovan-IncoherentMess 一、引言 随着科技的进步，芯片设计已经进入到了纳米级时代，如何在微小的芯片中实现更强大的功能和更高的效率成为了重要的问题。其中，功耗管理...
[测试理论] 芯片回片测试流程：科技中的关键一步 日期：2023-09-18 20:07:00 点击：917 好评：2
引言 在现代科技领域，半导体芯片扮演着至关重要的角色，驱动着各种电子设备的运行，从智能手机到云计算服务器。然而，要确保这些芯片的性能和质量，需要经过严格的测试过程，...
