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  • [测试基础理论] 半导体分立器件参数的脉冲测试 日期:2014-05-24 21:01:53 点击:548 好评:4

    半导体分立器件参数的脉冲测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 钟晓红 内 容 摘 要 本文介绍了半导体分立器件参数脉冲测试的必要性,有关标准对脉冲测试的要求及实现的方法。并介绍...

  • [测试基础理论] IC测试QQ群(111938408)经典讨论---关于pattern 日期:2014-02-19 19:40:55 点击:1095 好评:25

    argee 12:31:12 饭后说说pattern,从TE角度,pattern还是要理解的,否则没办法调试 argee 12:32:29 pattern从VCD,WGL,STIL转化过来,也有纯手工写的 鹏程兄弟 12:33:52 继续 argee 12:34:12 pattern的一行你可...

  • [芯片相关原理] 集成电路latch up简介 日期:2013-05-03 16:30:35 点击:1594 好评:8

    SCR结构可控硅及闩锁效应 一、SCR可控硅介绍 可控硅又称晶闸管(thyristor),最早由美国贝尔实验室发明,是由三个及以上pn结组成、具有开关特性的半导体器件的总称,通常使用最多的是...

  • [开发经验] 小电流(高电阻)的测量技巧 日期:2013-04-18 20:30:16 点击:1261 好评:10

    小电流的定义 IC测试机因为是高端测量,会受到内部开关,引线,pcb板等影响,所以最小电流量程一般为1UA左右;JUNO机等一些分立器件专用测试机,采用低端测量,加上特殊的布线等方...

  • [测试基础理论] 关于wafer测试的一些知识 日期:2012-04-16 21:28:42 点击:1170 好评:7

    每颗IC在后工序之前都必须进行CP(Chip Prober),以验证产品的功能是否正常,并挑出不良的产品和区分性能等级。 CP主要设备包括测试机(Tester)和探针台(Prober)。 测试机 主要包括...

  • [测试基础理论] Teradyne测试基础培训-Fundamental Of Testing On ATE 日期:2012-02-25 17:03:42 点击:737 好评:-2

    比较详细,值得参考!! Fundamental Of Testing On ATE-teradyne.pdf...

  • [测试基础理论] IC测试基础培训资料 日期:2011-11-06 18:43:04 点击:260 好评:19

    本文由国内IC资深测试工程师孙鹏程编写,资料图文并茂,浅显易懂,非常适于初学者培训,强烈推荐!!! IC测试培训 第一章IC测试基础知识 By 孙鹏程2009-8-8 本章要点 1.1 什么是IC测试...

  • [测试机台] 一种钽电容自动测试系统的介绍 日期:2010-09-17 20:17:31 点击:313 好评:0

    钽电容器是一种较新型的电解电容器,自从五十年代问世以来,即以其优异的性能,如体积小、单位体积电容大(是铝电解的3倍),漏电流少(钽电解要比铝电解小一级数量级),工作温度...

  • [测试基础理论] ADC静态参数INL DNL的定义及其测试方法 日期:2010-09-16 20:46:07 点击:1271 好评:15

    近来,具有出色静态和动态特性的高性能模数转换器(ADC)层出不穷。本文将聚焦于有关ADC两个重要的精度参数的测量技术:积分非线性(INL)和微分非线性(DNL)。对应用于通信和高...

  • [测试基础理论] ADSL单端环路测试简述 日期:2010-09-16 15:05:57 点击:139 好评:0

    DSL作为一种基于普通电话双绞线的传输技术,对物理传输线路有很大的依赖性。环路的特征将对 DSL 服务的质量和性能级别产生决定性的影响。运营商总是希望能在接受客户申请并收费...

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