[测试理论] 半导体生产制造中都有哪些测试环节？ 日期：2023-06-25 14:56:47 点击：452 好评：2
测试环节贯穿半导体生产制造，是芯片质量的把关者 半导体工艺制程越来越复杂，检测设备愈发重要。随摩尔定律的进一步发展，半导体芯片 晶体管密度越来越高，相关产品复杂度及...
[测试理论] 可测试性设计（DFT）与可检验性设计（DFI）之间 日期：2023-06-25 14:41:55 点击：523 好评：0
可测试性设计（Design for Test，DFT）和可检验性设计（Design for Inspection，DFI）是两种用于增强产品的测试和检验能力的设计方法。下面是它们的区别与联系，包括维基百科的定义： 可测试...
[测试理论] 产品为什么要老化？ 日期：2023-06-20 09:26:47 点击：439 好评：0
为什么每个通信产品都需要老化？刚入门的时候大家都有这个疑惑。久而久之，大家都了解到了老化可以使产品更加稳定，但是这里面有什么道道呢？ 老化的方式有哪些？ 常规通信产...
[测试基础理论] 电源测试 日期：2023-06-19 14:32:56 点击：625 好评：0
常见的芯片测试，包括电气特性，稳态和交叉条件，开关机，保护，管脚波形以及高低温测 试。 一、效率测试 1. 对比性能，优选方案 2. 评估系统负荷，考虑散热措施 3. 分析损耗，提...
[测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识（三） 日期：2023-06-15 14:44:38 点击：650 好评：0
四、如何进行一个产品的测试开发 各种规格书：通常有三种规格书，设计规格书、测试规格书、产品规格书。 设计规格书，是一种包含新电路设计的预期功能和性能特性的定义的文档...
[测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识（二） 日期：2023-06-14 16:25:12 点击：691 好评：0
三、不同的测试策略 对于芯片来说，有两种类型的测试，抽样测试和生产全测。 抽样测试，比如设计过程中的验证测试，芯片可靠性测试，芯片特性测试等等，这些都是抽测，主要目...
[测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识（一） 日期：2023-06-14 16:13:53 点击：743 好评：-2
作为一个芯片设计公司（fabless）,我们也非常关注集成电路产业链的各个环节，以此更好地给客户提供价值。这次我们给大家说说芯片测试相关的基础知识。 一、测试在芯片产业价值链...
[测试理论] API自动化测试：如何构建高效的测试流程 日期：2023-06-13 09:28:25 点击：412 好评：0
一、引言 在当前的软件开发环境中，API（Application Programming Interface）扮演了极为重要的角色，连接着应用的各个部分。对API进行自动化测试能够提高测试效率，降低错误，确保软件产品...
[测试理论] 集成电路的检测方法 日期：2023-06-12 10:47:43 点击：400 好评：0
,集成电路 目录 1.开路测量电阻法 2.在路检测法 2.1在路直流电压测量法 2.2在路电阻测量法 2.3在路总电流测量法 3.排除法和代换法 3.1排除法 3.2代换法 现在的电子产品往往由于一块集成...
[测试理论] API Mock 测试深度指南：基础入门到高阶技巧全覆 日期：2023-06-02 13:27:31 点击：135 好评：0
API Mock 测试深度指南：基础入门到高阶技巧全覆盖 原创 bartonBJ 全栈软件测试之路 2023-06-01 07:32 发表于北京 API测试是一种检查API功能、性能和安全性的方法。有时候，我们可能需要在测...
