[测试理论] 先进封装与传统封装测试制程差异解析 日期：2026-07-22 22:32:17 点击：250 好评：0
作为一名资深芯片测试制程工程师，为您深入浅出地解析先进封装与传统封装在测试制程上的核心差异。这对于理解行业趋势和确保芯片质量至关重要。 简单来说，传统封装的测试像是...
[芯片相关原理] 芯片测试制程避坑要点拆解-人机料法环测 日期：2026-07-22 21:24:00 点击：215 好评：0
一、 人 (Man) - 测试执行与管理的核心 人是所有环节中最活跃、也最易引入变异的因素。 技能与资质： 测试工程师和操作员必须经过严格培训并考核认证，确保其熟知测试程序、设备操...
[测试理论] 原来这测的就是AI芯片？ 日期：2026-07-22 19:07:00 点击：192 好评：0
一、什么是AI芯片测试？ 想象一下，AI芯片就像是一个超级大脑，而测试制程就是给这个大脑做全面体检的过程。我们需要确保每一片AI芯片： 1.功能正常：能正确执行AI计算任务 2.性能...
[测试理论] 程序跑得好好的，突然开始Fail了，现场到底怎么 日期：2026-07-13 22:46:25 点击：149 好评：0
产线每天都会遇到这种情况：昨天还在正常跑的测试程序，今天突然开始Fail。有时候是某几个测试项Fail，有时候是某一颗芯片全Fail，有时候良率掉了一截。 程序没改过，硬件没动过，...
[测试设备原理] 第三篇：芯片测试设备&治具通用技术标准与行业 日期：2026-07-12 18:10:48 点击：234 好评：0
芯片测试设备与治具并非按需选用即可，所有硬件的选型、验收、使用、校准、老化验证，都必须遵循 通用行业基础标准+细分场景专项合规标准 。技术标准的核心意义，是统一测试精...
[测试基础理论] 芯片 FA 失效分析：制程 & 测试工程师的良率破局 日期：2026-07-12 15:37:24 点击：358 好评：0
导语 半导体封装测试是芯片量产落地的最后一道关口，产线批量不良、可靠性老化失效、客户端退货偶发故障层出不穷，调机、改工艺、优化测试程序反复试错却找不到根源。 芯片测...
[芯片相关原理] 芯片测试制程全解析 日期：2026-07-10 23:06:27 点击：173 好评：4
好的，各位未来的芯片质量守护者们，大家好！作为一名在芯片测试制程领域摸爬滚打多年的工程师，我很高兴能通过这个知识库，带大家系统性地认识芯片测试。这不仅是技术，更是...
[测试理论] 数字半导体测试入门连载【第 7 期】测试工装全 日期：2026-07-06 19:24:00 点击：306 好评：2
开篇闲聊 做 ATE 调试，程序只是一部分，工装设计好坏直接决定良率、测试精度、设备故障率。很多工程师只钻研测试代码，忽略 Loadboard、探针卡、Handler 这些外围工装，经常出现接触...
[测试理论] 过压烧芯片，欠压不干活：电压变化对测试结果 日期：2026-07-01 22:54:11 点击：199 好评：0
芯片测试中，电压不是一个固定值，而是一个范围。测试工程师要做的，不只是在一个电压下验证芯片功能，还要验证芯片在电压偏离正常范围时无论是偏高还是偏低能否按预期工作或...
[测试基础理论] 探针卡接触电阻到底怎么测？——产线上最值钱 日期：2026-06-28 21:58:15 点击：314 好评：0
晶圆探针测试中，探针卡接触电阻是判断探针健康的核心指标。传统的两线法根本测不准，寄生电阻比信号本身还大。四线开尔文测量是产线标准做法，但参数设不对、校准没做、针没...
