[测试理论] 线上出现BUG，该怎么办！ 日期：2023-08-09 18:30:03 点击：305 好评：0
在讲解故障处理思路前，先讲一个故障场景（以呼叫中心系统作为一例子）： 业务人员反映呼叫中心系统运行缓慢，部份电话在自助语言环节系统处理超时，话务转人工座席，人工座席...
[测试理论] 测试工程师的感受总结 日期：2023-07-22 18:21:56 点击：353 好评：2
软件测试人员应该居安思危 每当经济不好，公司业绩不好的时候，公司都可能进行裁员。首先裁的就是测试人员。因为测试人员的技术水平相对来说比较低，容易被替代，招起来也比较...
[测试理论] DC-DC芯片PCB布局及注意事项 日期：2023-07-10 18:04:34 点击：409 好评：0
在DCDC电源电路中，PCB的布局对电路功能的实现和良好的各项指标来说都十分重要。本文以buck电路为例，简单分析一下如何进行合理PCB layout布局以及设计中的注意事项。如有问题，欢迎...
[测试理论] 半导体生产制造中都有哪些测试环节？ 日期：2023-06-25 14:56:47 点击：410 好评：2
测试环节贯穿半导体生产制造，是芯片质量的把关者 半导体工艺制程越来越复杂，检测设备愈发重要。随摩尔定律的进一步发展，半导体芯片 晶体管密度越来越高，相关产品复杂度及...
[测试理论] 可测试性设计（DFT）与可检验性设计（DFI）之间 日期：2023-06-25 14:41:55 点击：474 好评：0
可测试性设计（Design for Test，DFT）和可检验性设计（Design for Inspection，DFI）是两种用于增强产品的测试和检验能力的设计方法。下面是它们的区别与联系，包括维基百科的定义： 可测试...
[测试理论] 产品为什么要老化？ 日期：2023-06-20 09:26:47 点击：401 好评：0
为什么每个通信产品都需要老化？刚入门的时候大家都有这个疑惑。久而久之，大家都了解到了老化可以使产品更加稳定，但是这里面有什么道道呢？ 老化的方式有哪些？ 常规通信产...
[测试基础理论] 电源测试 日期：2023-06-19 14:32:56 点击：573 好评：0
常见的芯片测试，包括电气特性，稳态和交叉条件，开关机，保护，管脚波形以及高低温测 试。 一、效率测试 1. 对比性能，优选方案 2. 评估系统负荷，考虑散热措施 3. 分析损耗，提...
[测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识（三） 日期：2023-06-15 14:44:38 点击：620 好评：0
四、如何进行一个产品的测试开发 各种规格书：通常有三种规格书，设计规格书、测试规格书、产品规格书。 设计规格书，是一种包含新电路设计的预期功能和性能特性的定义的文档...
[测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识（二） 日期：2023-06-14 16:25:12 点击：625 好评：0
三、不同的测试策略 对于芯片来说，有两种类型的测试，抽样测试和生产全测。 抽样测试，比如设计过程中的验证测试，芯片可靠性测试，芯片特性测试等等，这些都是抽测，主要目...
[测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识（一） 日期：2023-06-14 16:13:53 点击：692 好评：-2
作为一个芯片设计公司（fabless）,我们也非常关注集成电路产业链的各个环节，以此更好地给客户提供价值。这次我们给大家说说芯片测试相关的基础知识。 一、测试在芯片产业价值链...
