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  • [测试基础理论] PCB电路设计指南(经典) 日期:2016-09-23 13:46:03 点击:324 好评:6

    1.静电放电之前静电场的效应 2.放电产生的电荷注入效应 3.静电放电电流产生的场效应 尽管印刷线路板(PWB,通常也称之为PCB)的设计会对上述三种效应都产生影响,但是主要是对第三...

  • [测试基础理论] 模拟电路和数字电路PCB设计的区别 日期:2016-09-23 12:14:53 点击:334 好评:6

    本文就旁路电容、电源、地线设计、电压误差和由PCB布线引起的电磁干扰(EMI)等几个方面,讨论模拟和数字布线的基本相似之处及差别。 工程领域中的数字设计人员和数字电路板设计专...

  • [测试基础理论] 电路常识(1)-输入、输出阻抗 日期:2016-09-23 12:03:11 点击:410 好评:2

    输入阻抗 输入阻抗是指一个电路输入端的等效阻抗。在输入端上加上一个电压源U,测量输入端的电流I,则输入阻抗Rin=U/I。你可以把输入端想象成一个电阻的两端,这个电阻的阻值,就...

  • [测试基础理论] 电路设计(五):电感的应用 日期:2016-09-23 11:36:30 点击:204 好评:3

    一、电感的定义: 电感是导线内通过交流电流时,在导线的内部及其周围产生交变磁通,导线的磁通量与生产此磁通的电流之比。 当电感中通过直流电流时,其周围只呈现固定的磁力...

  • [测试基础理论] 电路设计(四):电容的应用 日期:2016-09-23 11:11:45 点击:220 好评:4

    :主要用于电源滤波、信号滤波、信号耦合、谐振、滤波、补偿、充放电、储能、隔直流等电路中。以下介绍基于电容常用功能,详细介绍各功能应用。 电容特性:通交流阻直流,通高...

  • [测试基础理论] 芯片测试的几个术语及解释(CP、FT、WAT) 日期:2016-09-22 11:34:36 点击:4305 好评:1552

    CP 是把坏的 Die 挑出来,可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道 Wafer 的良率。 FT 是把坏的 chip 挑出来;检验封装的良率。 现在对于一般的 wafer 工艺,很多公司多把 CP 给省了;...

  • [测试基础理论] 非常详细的开关电源原理与设计讲义(60页PPT) 日期:2016-09-22 10:12:42 点击:388 好评:8

    开关电源基本原理与设计...

  • [专题讨论] 第六届IC测试研讨会详细内容 日期:2015-11-08 19:48:08 点击:1512 好评:22

    在广大测试工程师的期待中,我们第六届IC测试研讨会于2015年11月7日,在上海张江IC咖啡隆重举行,来自五湖四海的140多位工程师们共同分享这次技术大餐,干货如下: 主题一:《 汽车...

  • [测试基础理论] 高速数字信号管脚的常用测试方法 日期:2015-09-06 21:52:03 点击:1069 好评:16

    一直都没有机会聊具体的测试技术 , 今天就开始聊一下 . 介绍下高速数字信号管脚的常用测试方法 目前越来越多的 SOC 芯片都会有高速的数字信号管脚 , 常见的如 LVDS,HDMI 以及 PCIe 等信...

  • [测试基础理论] 浅谈DC/AC SCAN测试 日期:2015-09-06 21:24:21 点击:5027 好评:126

    SCAN 技术,也就是 ATPG 技术 -- 测试 std-logic, 主要实现工具是:产生 ATPG 使用 Mentor 的 TestKompress 和 synopsys TetraMAX ;插入 scan chain 主要使用 synopsys 的 DFT compiler 通常,我们所说的 DCSCAN 就是...

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