[测试基础理论] BUCK-BOOST 拓扑电源原理及工作过程解析 日期：2023-05-06 11:06:11 点击：334 好评：-2
在非隔离电源方案中，基础拓扑的Buck、Boost、Buck-Boost电路中，前两种已经在前面章节进行了详细描述。很多工程师对Buck和Boost电路都特别熟悉，只是对Buck-Boost不熟悉。 Buck表示降压，...
[测试基础理论] I2C总线为什么要接上拉电阻 日期：2023-05-05 10:59:32 点击：357 好评：0
I2C为什么要接上拉电阻？因为它是开漏输出。 为什么是开漏输出？ I2C协议支持多个主设备与多个从设备在一条总线上，如果不用开漏输出，而用推挽输出，会出现主设备之间短路的情...
[测试基础理论] I2C上拉电阻如何取值？ 日期：2023-05-05 10:12:15 点击：250 好评：2
I2C一般为开漏结构，需要在外部加上拉电阻，常见的阻值有1k、1.5k、2.2k、4.7k、5.1k、10k等。 但是应该如何根据开发要求选择合适的阻值呢？ 假设SDA是低电平时，即MOS管导通。那么，就...
[芯片相关原理] 想测试入门就必须要懂的软件开发流程 日期：2023-05-04 15:41:29 点击：227 好评：0
从事软件测试行业，每天面对的被测对象都是软件。如果想要更好的去完成测试工作，首先需要对被测对象，也就是对软件要有基本的了解。 软件 与计算机系统操作有关的计算机程序...
[测试基础理论] 几种高效的电路分析方法 日期：2023-05-04 11:38:20 点击：256 好评：0
对电路进行分析的方法很多，如叠加定理、支路分析法、网孔分析法、结点分析法、戴维南和诺顿定理等。根据具体电路及相关条件灵活运用这些方法，对基本电路的分析有重要的意义...
[测试理论] 辐射超标EMC晶振干扰案例 日期：2023-04-28 15:13:32 点击：745 好评：2
我们常把晶振比喻为数字电路的心脏，这是因为，数字电路的所有工作都离不开时钟信号，晶振直接控制着整个系统，若晶振不运作那么整个系统也就瘫痪了，所以晶振是决定了数字电...
[测试基础理论] 芯片老化测试的分类/测试弹片 日期：2023-04-26 09:59:56 点击：181 好评：2
随着芯片打入汽车、云计算和工业物联网等市场，芯片的可靠性渐渐成为开发人员关注的重点。每个终端市场都有其独特的需求与特征，影响着芯片的使用方法与条件，而芯片的使用方...
[测试理论] 干货！芯片测试 日期：2023-04-25 10:16:58 点击：719 好评：0
做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试，芯片成本构成一般为人力成本20%，流片40%，封装35%，测试5%【对于先进工艺，流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...
[测试基础理论] 为什么有时在PCB走线上串个电阻？有什么用？ 日期：2023-04-23 13:50:29 点击：416 好评：2
由于电信号在PCB上传输，我们在PCB设计中可以把PCB走线认为是信号的通道。当这个通道的深度和宽度发生变化时，特别是一些突变时，都会产生反射。此时，一部分信号继续传播，一部...
[测试基础理论] ESD防护设计—NMOS的妙用（二） 日期：2023-04-23 13:33:07 点击：404 好评：0
这期继续分享NMOS在ESD防护中的妙用。上期讲到改变GGNMOS中反偏结的击穿电压可以实现对 Trigger Voltage 的改变。而众多改变反偏结击穿电压的方法无论是改变掺杂浓度还是改变拓扑结构，...
