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  • [测试设备原理] 负载电流的测量方法分析 日期:2014-10-22 08:51:34 点击:730 好评:0

    引言 电流 测量 可用于监测许多不同的参数,输入功率就是其中之一。有许多采样元件都可用来测量 负载电流 ,但没有一种元件能够覆盖所有应用。每种采样元件都有其优点和缺点。...

  • [测试元器件] 元器件基础知识:电容器是如何工作的? 日期:2014-10-17 10:47:13 点击:912 好评:50

    一篇不错的电容知识,原理介绍 电路是道路,电荷是车 如果将一个电路比作马路的话,电荷的移动就好像车流一样。 阻抗是崎岖的道路 道路凹凸不平的情况下,车的行驶速度虽然会减...

  • [测试基础理论] 关于Cpk的一些知识 日期:2014-05-30 09:22:02 点击:2420 好评:36

    关于 Cpk 的一些常识 现在很多的客户要求了解你生产设备的能力,都要求看你的Cpk值。什么是Cpk值?我这里传载一些介绍给大家,要详细的了解,还是要看SPC。 SPC相关术语解释 您知道...

  • [测试基础理论] 集成稳压器调整率参数的测试 日期:2014-05-24 21:23:29 点击:1070 好评:60

    集成稳压器调整率参数的测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 赵建平 摘要 本文介绍了集成稳压器调整率参数的测量原理和方法,分析了影响调整率参数测量精度的各种原因以及为此而采...

  • [测试基础理论] 半导体分立器件参数的脉冲测试 日期:2014-05-24 21:01:53 点击:782 好评:67

    半导体分立器件参数的脉冲测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 钟晓红 内 容 摘 要 本文介绍了半导体分立器件参数脉冲测试的必要性,有关标准对脉冲测试的要求及实现的方法。并介绍...

  • [测试基础理论] IC测试QQ群(111938408)经典讨论---关于pattern 日期:2014-02-19 19:40:55 点击:1522 好评:46

    argee 12:31:12 饭后说说pattern,从TE角度,pattern还是要理解的,否则没办法调试 argee 12:32:29 pattern从VCD,WGL,STIL转化过来,也有纯手工写的 鹏程兄弟 12:33:52 继续 argee 12:34:12 pattern的一行你可...

  • [芯片相关原理] 集成电路latch up简介 日期:2013-05-03 16:30:35 点击:2329 好评:19

    SCR结构可控硅及闩锁效应 一、SCR可控硅介绍 可控硅又称晶闸管(thyristor),最早由美国贝尔实验室发明,是由三个及以上pn结组成、具有开关特性的半导体器件的总称,通常使用最多的是...

  • [开发经验] 小电流(高电阻)的测量技巧 日期:2013-04-18 20:30:16 点击:1725 好评:21

    小电流的定义 IC测试机因为是高端测量,会受到内部开关,引线,pcb板等影响,所以最小电流量程一般为1UA左右;JUNO机等一些分立器件专用测试机,采用低端测量,加上特殊的布线等方...

  • [测试基础理论] 关于wafer测试的一些知识 日期:2012-04-16 21:28:42 点击:1764 好评:36

    每颗IC在后工序之前都必须进行CP(Chip Prober),以验证产品的功能是否正常,并挑出不良的产品和区分性能等级。 CP主要设备包括测试机(Tester)和探针台(Prober)。 测试机 主要包括...

  • [测试基础理论] IC测试基础培训资料 日期:2011-11-06 18:43:04 点击:294 好评:23

    本文由国内IC资深测试工程师孙鹏程编写,资料图文并茂,浅显易懂,非常适于初学者培训,强烈推荐!!! IC测试培训 第一章IC测试基础知识 By 孙鹏程2009-8-8 本章要点 1.1 什么是IC测试...

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