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  • [芯片制造] 半导体基础知识与晶体管工艺原理之一 日期:2010-08-14 08:55:55 点击:739 好评:2

    本文讲解了半导体的一些基本概念和晶体管的制造工艺方面的原理,非常适合初入微电子行业的新人学习之用,可以说是半导体行业入门的通用教材,其实对于半导体行业,基础知识非...

  • [测试基础理论] IDDQ测试解析 日期:2010-08-13 15:13:06 点击:551 好评:2

    IDDQ测试在大规模集成电路测试中尤为重要,本文将详细阐述IDDQ测试原理,测试方法。 IDDQ TUTORIAL Goals: To show how a quiescent current supply test, Iddq, contributes to ICdefect isolation. To understand the c...

  • [测试基础理论] 差分信号介绍--intel内部培训资料 日期:2010-08-10 20:13:31 点击:313 好评:-2

    本文详细介绍了差分信号的各种特性,从原理,PCB设计,仿真等各方面阐述了差分信号的特点,为intel内部培训资料,不可多得,值得参考,强烈推荐,以下为资料主要内容: Different...

  • [测试基础理论] Arithmetic Built-in Self Test for Embedded Systems 日期:2010-07-10 15:36:45 点击:106 好评:0

    本书详细介绍了超大规模集成电路的内建自测试的原理,方法,是一本非常难得的IC测试书籍,被誉为IC测试必备书籍之一。本书为英文版资料,适合具有一定测试基础的IC测试工程师阅...

  • [测试基础理论] memory原理及测试介绍 日期:2010-07-07 16:04:50 点击:484 好评:2

    本站收集了一些memory测试资料,其中包括memory原理及测试介绍,另外包括一个测试程序的demo,以供测试工程师参考。详见如下: Memory Testing and Pattern Introduction Brief Introduction Memory Clas...

  • [测试基础理论] The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing 日期:2010-06-21 16:17:59 点击:367 好评:-3

    本书详细介绍了数字集成电路测试和测量方法,是第一本全面系统地介绍数字信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践,结合国际上关注的最新研究热点并...

  • [测试机台] 一种简易IC测试机的实现方案 日期:2010-04-24 14:11:42 点击:376 好评:0

    集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门...

  • [测试基础理论] 大规模集成电路测试方法研究-边界扫描测试方法 日期:2010-03-02 15:27:55 点击:756 好评:8

    目 录 1 边界扫描测试方法 1 1.1边界扫描基本状况1 1.2 IEEE STD 1149.1 1 1.3 IEEE STD 1149.4 3 1.4 IEEE STD 1149.5 5 1.5 IEEE STD 1149.6 6 1.6边界扫描测试的发展前景 9 1.7 本章小结 9 2 全扫描可测试性实现方...

  • [混合信号芯片] Test AD7880(ADC) by the Teradyne FLEX Tester 日期:2010-01-26 10:36:58 点击:589 好评:2

    本文讲述了如何使用Teradyne的FLEX测试机,开发一款混合信号芯片AD7880---12位ADC测试的详细过程,从ADC静态及动态参数的意义,到测试程序的编写都非常细致入微,相信对FLEX测试机的学习...

  • [测试机台] Credence D10 Application Training 日期:2010-01-24 19:19:21 点击:667 好评:-2

    Credence Diamond10規格表 在台灣這兒, D10的價位約只有同配備J750的50%~66%, 測試成本低廉許多. D10也是使用x86 PC host, OS用的是RedHat的Linux, 測試語言是文字型態的C++, GUI化的只有Analog及debuging...

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