[测试基础理论] 半导体分立器件参数的脉冲测试 日期：2014-05-24 21:01:53 点击：1739 好评：334
半导体分立器件参数的脉冲测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 钟晓红 内 容 摘 要 本文介绍了半导体分立器件参数脉冲测试的必要性，有关标准对脉冲测试的要求及实现的方法。并介绍...
[测试基础理论] IC测试QQ群(111938408)经典讨论---关于pattern 日期：2014-02-19 19:40:55 点击：2880 好评：319
argee 12:31:12 饭后说说pattern，从TE角度，pattern还是要理解的，否则没办法调试 argee 12:32:29 pattern从VCD,WGL，STIL转化过来，也有纯手工写的 鹏程兄弟 12:33:52 继续 argee 12:34:12 pattern的一行你可...
[芯片相关原理] 集成电路latch up简介 日期：2013-05-03 16:30:35 点击：4184 好评：922
SCR结构可控硅及闩锁效应 一、SCR可控硅介绍 可控硅又称晶闸管(thyristor)，最早由美国贝尔实验室发明，是由三个及以上pn结组成、具有开关特性的半导体器件的总称，通常使用最多的是...
[开发经验] 小电流（高电阻）的测量技巧 日期：2013-04-18 20:30:16 点击：2889 好评：813
小电流的定义 IC测试机因为是高端测量，会受到内部开关，引线，pcb板等影响，所以最小电流量程一般为1UA左右；JUNO机等一些分立器件专用测试机，采用低端测量，加上特殊的布线等方...
[测试基础理论] 关于wafer测试的一些知识 日期：2012-04-16 21:28:42 点击：4260 好评：507
每颗IC在后工序之前都必须进行CP（Chip Prober），以验证产品的功能是否正常，并挑出不良的产品和区分性能等级。 CP主要设备包括测试机（Tester）和探针台（Prober）。 测试机 主要包括...
[测试基础理论] IC测试基础培训资料 日期：2011-11-06 18:43:04 点击：298 好评：468
本文由国内IC资深测试工程师孙鹏程编写，资料图文并茂，浅显易懂，非常适于初学者培训，强烈推荐！！！ IC测试培训 第一章IC测试基础知识 By 孙鹏程2009-8-8 本章要点 1.1 什么是IC测试...
[测试机台/ATE] 一种钽电容自动测试系统的介绍 日期：2010-09-17 20:17:31 点击：1008 好评：864
钽电容器是一种较新型的电解电容器，自从五十年代问世以来，即以其优异的性能，如体积小、单位体积电容大(是铝电解的3倍)，漏电流少(钽电解要比铝电解小一级数量级)，工作温度...
[测试基础理论] ADC静态参数INL DNL的定义及其测试方法 日期：2010-09-16 20:46:07 点击：4348 好评：771
近来，具有出色静态和动态特性的高性能模数转换器（ADC）层出不穷。本文将聚焦于有关ADC两个重要的精度参数的测量技术：积分非线性（INL）和微分非线性（DNL）。对应用于通信和高...
[测试基础理论] ADSL单端环路测试简述 日期：2010-09-16 15:05:57 点击：463 好评：357
DSL作为一种基于普通电话双绞线的传输技术，对物理传输线路有很大的依赖性。环路的特征将对 DSL 服务的质量和性能级别产生决定性的影响。运营商总是希望能在接受客户申请并收费...
[S0C系列] 基于ADVANTest T66XX的Base Band通信类SoC测 日期：2010-09-15 13:59:18 点击：2356 好评：694
摘要：本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题，在此将介绍基于ADVANTest(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字...
