[测试基础理论] 芯片测试的几个术语及解释（CP、FT、WAT） 日期：2016-09-22 11:34:36 点击：11565 好评：1812
CP 是把坏的 Die 挑出来，可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道 Wafer 的良率。 FT 是把坏的 chip 挑出来；检验封装的良率。 现在对于一般的 wafer 工艺，很多公司多把 CP 给省了；...
[测试基础理论] 非常详细的开关电源原理与设计讲义（60页PPT) 日期：2016-09-22 10:12:42 点击：1171 好评：211
开关电源基本原理与设计...
[专题讨论] 第六届IC测试研讨会详细内容 日期：2015-11-08 19:48:08 点击：2450 好评：288
在广大测试工程师的期待中，我们第六届IC测试研讨会于2015年11月7日，在上海张江IC咖啡隆重举行，来自五湖四海的140多位工程师们共同分享这次技术大餐，干货如下： 主题一：《 汽车...
[测试基础理论] 高速数字信号管脚的常用测试方法 日期：2015-09-06 21:52:03 点击：2439 好评：265
一直都没有机会聊具体的测试技术 , 今天就开始聊一下 . 介绍下高速数字信号管脚的常用测试方法 目前越来越多的 SOC 芯片都会有高速的数字信号管脚 , 常见的如 LVDS,HDMI 以及 PCIe 等信...
[测试基础理论] 浅谈DC/AC SCAN测试 日期：2015-09-06 21:24:21 点击：10180 好评：375
SCAN 技术，也就是 ATPG 技术 -- 测试 std-logic, 主要实现工具是：产生 ATPG 使用 Mentor 的 TestKompress 和 synopsys TetraMAX ；插入 scan chain 主要使用 synopsys 的 DFT compiler 通常，我们所说的 DCSCAN 就是...
[测试基础理论] 数字信号与模拟信号的区别 日期：2015-09-06 21:20:00 点击：1014 好评：239
模拟数据(Analog Data)是由传感器采集得到的连续变化的值，例如温度、压力，以及目前在电话、无线电和电视广播中的声音和图像。 数字数据(Digital Data)则是模拟数据经量化后得到的离散...
[芯片相关原理] ADC相关知识整理 日期：2015-09-06 21:07:58 点击：1101 好评：280
过采样频率: 增加一位分辨率或每减小6dB 的噪声，需要以4 倍的采样频率fs 进行过采样. 假设一个系统使用12 位的ADC，每秒输出一个温度值(1Hz)，为了将测量分辨率增加到16 位，按下式计...
[测试基础理论] 测试基础篇-电容与电感对电流测试的影响 日期：2015-09-05 16:16:31 点击：1580 好评：265
说起测试，最基本的就是电压和电流的测试，对于比较理想的条件下，电压和电流的测试是比较容易的，借助测试V/I源，我们可以很方便的对电压和电流进行测试。 然而，在实际的测试...
[其他] PhotoMOS Relay的热切换实验（Hot Switching） 日期：2015-09-05 16:04:39 点击：1134 好评：259
我们先了解下PhotoMOS，PhotoMOS是指在输入元件中采用LED，在输出元件中采用MOSFET的光电耦合器。PhotoMOS与传统 的机械型继电器最大的区别在于：PhotoMOS是一款光电耦合器，触点不进行机械...
[测试设备原理] 一款PVM板的设计1 日期：2015-04-19 22:18:22 点击：793 好评：290
现在测试的产品，对ATE的要求越来越高，譬如某款很常见的AC-DC driver，limit也就+-4个mV。ATE内部的VI源由于设计复杂，本身产生的噪声很难控制下来，所以对1mV以下的信号测量的绝对精度...
