 现在测试的产品，对ATE的要求越来越高，譬如某款很常见的AC-DC driver，limit也就+-4个mV。ATE内部的VI源由于设计复杂，本身产生的噪声很难控制下来，所以对1mV以下的信号测量的绝对精度理论上 来说就很难保证。本项目想尝试解决这个问题，测量的绝对精度偏差小于1mV。 先谈下AD的选择。 市面常见的万用表，如6位半的34401A和8位半的3458A，里面都是采用专利技术的多斜积分的ADC。但是考虑到采样速度和易购买程度，也就 linear的LTC244X系列，能满足速度和精度两方面要求。这款IC在Khz的采样速率下，能保证20bit的精度；但是在ATE场合，个人觉得这 种Delta Sigma ADC不适合使用，SAR ADC才是最佳选择。 为什么呢？ Delta Sigma ADC在滤波过程中，会把一些输出电压的细节上面的变化给滤掉了；而SAR ADC可以很快的采样，抓住这种细节变化，这对我们调试程序很有用。 所以AD的选择，最终还是选择LTC2389-16 2.5Msps，一款linear的16bit的ADC。该款IC还有18bit的版本，留待以后扩展。 基准IC选择 LM399。该颗IC除了给ADC提供基准，还得完成自校准所需参考电压点的产生。LM399在几个常用的高位表和NI的数据采集卡里面大量被大量采用，还是信得过的。 几个对电压测量起关键作用的电阻采用vishay金属箔方块电阻，718之类的暂时不考虑。 |
