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CMOS器件工艺流程(6)

时间:2023-02-07 10:54来源:芯片测试工程师 作者:ictest8_edit 点击:

 
到此,器件工艺完成了,平面图如下:
 
 
 
9. Salicide:Ti与硅形成低阻层Salicide;
 
 
 
 
 
 
 
 
 
只有与硅接触的T与硅反应了,其它区域Ti未反应可以腐蚀掉。
 
 
 
10.ILD淀积及contac形成:
(1)BPSG淀积及CMP抛光。
 
 
 
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