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CMOS器件工艺流程(4)

时间:2023-02-07 10:54来源:芯片测试工程师 作者:ictest8_edit 点击:

 
 
 
 
(1)栅氧化层生长:非常薄,质量非常关键,要控制好厚度,电荷,可动离子等;
 
 
 
(2)POLY淀积:淀积 Insu-Poly,或者后面掺杂后再光刻
 
 
 
(3)POLY光刻、刻蚀:光刻Gate,并刻蚀POLY,然后去胶;
 
 
 
 
 
 
 
 
 
(4)POLY氧化:作为SI3N4 spacer刻蚀的停止层;
 
 
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