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CMOS器件工艺流程(2)

时间:2023-02-07 10:54来源:芯片测试工程师 作者:ictest8_edit 点击:

 
(1)A-A隔离区刻蚀:先将hard mask氮化硅和oxide一起刻掉;
 
 
 
(2)STI槽刻蚀:Si3N4的刻蚀菜单刻蚀硅速率过快,不好控制,需要分开刻蚀;
 
 
 
 
(3)刻蚀完成后去胶,为了节省空间,后面的层次去胶将会用一句话带过;
 
 
 
(4)STI用氧化硅填充:这里没有讲,其实刻蚀STI会对衬底造成损伤,一般要先长一层薄氧化层,然后再腐蚀掉的,这样可以消除表现损伤;
STI填充:HDP高密度等离子淀积STI槽,用其他机器填充会提前将STI槽封死,里面会出现空洞,HDP机台是一遍淀积,一遍刻蚀,可以防止提前封口;
 
 
 
(5)简单的做法是直接CMP将二氧化硅磨平,但一般该步骤直接CMP会造成STI表面下陷,STI槽不满的情况,一般还会再加一层,将STI区域保护起来,将中间区域刻蚀掉,然后再CMP,这里简化处理。
 
 
 
(6)热磷酸腐蚀掉氮化硅,这个不叫常规;
 
 
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