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CMOS器件工艺流程(5)

时间:2023-02-07 10:54来源:芯片测试工程师 作者:ictest8_edit 点击:

 
7. NLDD/PLDD的形成:
(1)NLDD光刻,注入,去胶;
 
 
 
 
 
 
(2)PLDD光刻,注入,去胶;
 
 
 
 
 
 
 
(3)Si3N4 spacer的刻蚀:氮化硅淀积及刻蚀
 
 
 
 
 
 
 
8. NSD/PSD形成:
(1)NMOS的源漏注入:Si3N4 spacer挡住的区域NSD注入注不进去,因此NSD区域要离开gate一小段距离;
 
 
 
 
 
 
(2)PMOS源漏注入:做完PSD,一起做一次RTP来退回,激活离子。
 
 
 
 
 
 
 
 
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