欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业IC测试网

当前位置: 网站主页 > 相关技术 >
  • [相关技术] 半导体行业关键量检测技术 日期:2024-07-15 20:08:00 点击:435 好评:2

    1 引言 半导体检测是 提高产线良率、提高竞争实力的关键 。半导体检测贯穿于产品生产制造流程始终,产品小组通过分析检测数据确保产品工艺参数符合设计需求,并用以确定问题来...

  • [相关技术] 【芯片设计】异步电路碎碎念(一) 到底什么是 日期:2024-07-15 19:06:00 点击:353 好评:0

    这个系列最开始是几年前帮朋友梳理面试重点时开始动笔的,后面结合了一些实际使用的注意点和拓展探索以及在异步专题学习小组中的知识获取,完成了整个系列的内容。系列的内容...

  • [相关技术] 为什么80%的芯片采用硅晶圆制造? 日期:2024-07-14 21:20:44 点击:244 好评:0

    我们今天看到80%以上的芯片都是用硅片生产的,而不是用今天热门的碳化硅、砷化镓、氮化镓等材料生产。这是为什么? 1. 材料的选择标准 在选择用于生产芯片的材料时,需要考虑以...

  • [相关技术] 前线芯思路 | AC-DC控制器PCB布局要点, 日期:2024-07-14 20:18:00 点击:284 好评:0

    在65W~150W输出功率范围应用下,CrM PFC + QR Flyback 拓朴是非常普遍被选用的架构,在小型化集成线路驱势下,QR combo 控制芯片应运而生。另外对于消费型电子产品,不仅能效需要符合法规...

  • [相关技术] #33 MOS的跨导与大信号模型小信号模型 日期:2024-07-14 19:08:00 点击:263 好评:0

    ...

  • [芯片制造] 芯片失效分析(案例分析) 日期:2024-07-12 22:37:00 点击:228 好评:0

    失效分析工作是一个及其复杂的过程,它需要多学科相互交叉。 芯片失效分析的步骤 1. 外观检查。 2.X-ray。 3.声学扫描显微镜检查。 4.I-V曲线测试。 5.化学解封装后内部视检。 6.微光显...

  • [相关技术] 9. 探索DFT DRC规则检查:确保设计质量与可靠性 日期:2024-07-10 21:47:00 点击:801 好评:0

    在现代半导体设计中,DFT(Design for Test)技术的重要性不言而喻。它确保了芯片在制造完成后能够进行高效和可靠的测试。DFT设计规则检查(DRC)作为DFT流程中的一个关键环节,通过一...

  • [相关技术] 一图搞懂碳化硅——晶圆制造篇 日期:2024-07-10 20:32:00 点击:223 好评:0

    ...

  • [相关技术] 浅析GPU分布式通信技术-PCle、NVLink、NVSwitch 日期:2024-07-09 22:18:00 点击:894 好评:2

    在进入大模型时代后,大模型发展已是人工智能的核心,但训练大模型实际上是一项比较复杂的工作,因为它需要大量的 GPU 资源和较长的训练时间。 此外,由于单个 GPU 工作线程的内...

  • [相关技术] Design for Testability (DFT) 的发展历史 日期:2024-07-09 21:07:00 点击:425 好评:0

    Design for Testability (DFT),即 可测试性设计 ,是一种在集成电路(IC)设计阶段通过引入特定测试结构和方法来提高电路在制造后测试效率和可靠性的重要技术。DFT技术随着集成电路的发...

  • 首页
  • 上一页
  • 22
  • 23
  • 24
  • 25
  • 26
  • 27
  • 28
  • 29
  • 30
  • 31
  • 32
  • 下一页
  • 末页
  • 95947
栏目列表