 在现代半导体设计中，DFT（Design for Test）技术的重要性不言而喻。它确保了芯片在制造完成后能够进行高效和可靠的测试。DFT设计规则检查（DRC）作为DFT流程中的一个关键环节，通过一系列自动化工具检测设计中的潜在问题，从而保证设计的可测试性和整体质量。在本文中，我们将详细探讨DFT DRC的概念、重要性、检查流程以及具体的规则和应用。
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| 规则检查名 | DRC代码开头 | 描述 |
| RAM Rules | A* | RAM相关的检查 |
| Assertion Rules | ASSERT | 检查ATPG lb里定义的assert_shift/capture/pattern等 |
| BIST Rules | B* | 确保BISTpattern可以正确应用在circuit上 |
| Clock Rules | C* | 检查扫描时钟的定义和操作 |
| Scan Cell Data Rules | D* | 检查扫描单元是否可控可观测 |
| Pre-DFT Clock Rules | DFT_C* | 检查做DFT之前的时钟定义和电路 |
| Extra Rules | E* | 检查潜在的设计问题 |
| EDT (Finder) Rules | K*/F* | 检查EDT逻辑的连接 |
| Flattening Rules | FN,FP,FG | 检查网表的层次结构是否利于flattening |
| General Rules | G* | General Rule，最基础的检查项 |
| ICL Extraction/Sematic Rules | I*/ICL* | ICL文件格式的检查 |
| Procedure Rules | P* | 检查test procedure文件的正确性 |
| Core Mapping for ATPG and Scan Pattern Retargeting Rules | R* | 检查设计是否满足pattern retargeting的要求 |
| Scannability Rules | S* | 检查设计是否符合扫描要求 |
| Scan Chain Trace Rules | T* | 检查扫描链 |
| Power-Aware Rules | V* | 检查cpf/upf |
| Timing Rules | W* | 检查timeplate到procedure的mapping |
1. 时钟相关检查
时钟在DFT中扮演着重要角色，时钟信号的定义和传递直接影响到芯片的测试效果，在tessent里，任何可能改变时序器件状态的信号，都称之为时钟。时钟相关的DRC检查主要包括以下几方面：
· 时钟定义：确保所有定义的时钟信号能够正确传递到各个存储单元的时钟端。
· 时钟状态：在所有时钟处于关闭状态时，设计中的所有扫描和非扫描存储单元都不能捕获数据。
· 时钟影响：检查时钟信号在不同状态下对数据捕获的影响，确保不会干扰存储单元的数据操作。
2. 扫描相关检查
扫描链的定义和连接是DFT的重要组成部分，扫描相关的DRC检查包括：扫描链定义：确保所有扫描链组至少包含一条有效的扫描链，避免空的扫描链组存在。
时钟定义：确保每个扫描链组都有对应的时钟信号。
扫描链连接：检查扫描链的输入和输出连接，确保其与设计的其余部分正确衔接。
3. BIST规则检查
内建自测试（BIST）是一种常见的DFT技术，BIST规则检查主要包括：
BIST模式：确保BIST模式能够正确应用于电路中。
BIST连接：检查BIST逻辑的连接，确保其与电路其他部分的正确交互。
4. 预DFT时钟规则检查
在插入内建测试之前，预DFT时钟规则检查确保时钟的定义和结构合理，包括：
时钟传递：确保定义的时钟信号能够传递到所有需要的存储单元。
时钟频率：在定义memory时钟时，需指定正确的时钟频率。
如何进行DRC检查
进行DRC检查需要执行一系列特定的命令和操作，这些操作可以帮助设计人员快速识别并修正设计中的问题。以下是一些关键命令和操作步骤：
启动DRC检查
check_design_rules：启动DRC检查过程。
set_system_mode analysis：设置系统模式为分析，准备进行DRC检查。
配置DRC检查
配置DRC检查可以根据需要调整检查规则的严重程度（Error、Warning、Note、Ignore），以便更好地管理和处理DRC检查结果。
set_drc_handling：配置DRC检查的处理方式，根据严重程度进行分类处理。
生成DRC报告
DRC检查完成后，可以生成详细的DRC报告，帮助设计人员了解和修正设计中的问题。
report_drc_rules：生成DRC检查报告，包含所有的DRC违例总结。
report_drc_rules –all_fails：生成包含详细信息的DRC检查报告。
report_drc_rules ID：报告某一类特定的DRC违例。
report_drc_rules ID-num：报告某一个具体的DRC违例。
典型的DRC规则示例
以下是一些典型的DRC规则示例，这些规则在实际设计中经常被用到，用于确保设计的各个方面都符合规范要求。
时钟相关规则
C1：当所有定义的时钟都处于关闭状态时，设计中所有的扫描和非扫描存储单元都不能捕获数据，否则违例。
C2：所有已经定义了的时钟，都应该能向后到达某一个存储单元的时钟端，否则违例。
C6：定义的时钟不能影响存储单元正在捕获的数据。
预DFT时钟规则
DFT-C1：已经定义过的时钟信号必须能够传递到所有存储单元的时钟端。
DFT-C5：在定义memory时钟时，需指定正确的时钟频率，确保其在实际操作中能够正常工作。
扫描相关规则
G1：除了dummy外，所有扫描链组都应该包含至少一条扫描链。定义扫描链或者删除空的扫描链组。
G2：除了dummy外，所有扫描链组都应该有时钟。通过add_clock定义时钟。
G3：如果电路里没有时序存储单元，不能定义时钟。
G4：如果电路里没有时序存储单元，不能定义扫描链组。
G5：如果电路里没有RAM，不能定义写控制信号。
DRC检查的分析与处理
DRC检查完成后，生成的报告可以帮助设计人员详细了解每一个DRC违例，并根据需要进行相应的修正。通过以下命令和操作，设计人员可以高效地分析和处理DRC违例：
report_drc_rules：报告所有的DRC违例（总结）。
report_drc_rules –all_fails：报告所有的DRC违例（详细）。
report_drc_rules ID：报告某一类DRC违例。
report_drc_rules ID-num：报告某一个DRC违例。
此外，Tessent DRC检查工具还提供了GUI界面，通过图形化界面可以更直观地查看和处理DRC违例：
open_visualizer：打开GUI，选择“DRC Violations”标签。
analyze_drc_violation：分析具体的DRC违例。
总结
DFT DRC检查作为保障芯片设计质量和可测试性的关键步骤，通过自动化工具的帮助，设计人员能够及时发现和解决潜在问题，确保最终产品的可靠性和功能性。Tessent DRC工具以其强大的功能和高效的检查流程，成为业界广泛使用的解决方案。希望通过本文的详细介绍，您能更好地理解DFT DRC检查的流程和方法，为您的设计工作提供有价值的参考。
