[测试基础理论] 浅谈laser trimming特点及其应用 日期：2010-09-08 20:52:03 点击：3645 好评：859
采用先进的激光工艺，对硅上集成电路进行修调（trimming）时，不需要物理接触，可以大大减少电路上pad的数目；同时，激光修调工艺可以实现对电路中的薄膜电阻阻值高精密的调整，...
[模拟芯片] 通用运算放大器主要参数测试方法说明 日期：2010-08-24 11:12:56 点击：5923 好评：804
运算放大器是模拟器件的核心，熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础，掌握了运放的测试，其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚，所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位，故劝各位...
[混合信号芯片] 基于自动测试系统的ADC测试开发 日期：2010-08-17 11:09:08 点击：3343 好评：610
作者：张建强 北京大学深圳研究生院 冯建华 北京大学微电子学系 冯建科 北京自动测试技术研究所 摘 要: A /D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器...
[优化经验] wafer test Yield 的分析及提高 日期：2010-08-15 20:58:18 点击：2519 好评：842
本文详细介绍了半导体制造过程中良率的提高分析,运用大量实例说明如何提高良率,作为测试工程师在CP测试中遇到低良率情况时,可以参考此资料,以分析测试及wafer各方面问题,另外本资...
[开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期：2010-08-15 20:54:47 点击：1428 好评：842
冯蕊，于祥苓，周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳ll0032) 摘要：介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...
[测试板/loadboard] RF类IC loadboard设计参考资料之电源部分 日期：2010-08-11 21:06:15 点击：1367 好评：860
在了解以上知识后，我们应该知道，时钟信号在布线时一定要远离这些噪声源，有时要用专门的屏蔽把时钟信号保护起来，以免被干扰而出现抖动和毛刺，时钟方面的问题先介绍至此，...
[测试生产工程] 测试厂CP及FT测试流程规范 日期：2010-08-10 16:57:34 点击：8256 好评：852
对于测试厂来说，CP以及FT的测试流程尤为重要，一个良好的测试流程不仅能够提高测试厂的产能，测试效率，而且能够提高客户的认可，好评，本文介绍将分别介绍CP及FT的测试流程，...
[不良分析] 电子元器件失效分析技术—IC Failure Analysis 日期：2010-08-05 14:32:46 点击：2369 好评：1209
本文详细讲解了IC及相关电子元器件失效分析技术，从失效分析步骤到具体操作程序，如：X-RAY,IC开帽（decap）,C-SAM，EBT等，并举以实例，是一篇很好的IC失效分析参考资料。主要内容如...
[EDA工具] protel PCB布局布线经验谈 日期：2010-06-29 15:35:43 点击：851 好评：1004
－个布线工程师谈PCB设计的经验 -------------转载 看到不少弟兄的帖子，感觉没有对PCB有一个系统的、合理的设计流程。就随便写点，请高手指教。 一般PCB基本设计流程如下：前期准备...
[其他] 如何使用excel进行测试数据分析-EXCEL应用指南 日期：2010-06-24 16:19:35 点击：1155 好评：971
作为测试工程师，经常会遇到测试数据的处理，而Excel是一个很好的数据处理软件，如何使用它进行我们的测试数据的处理，这也是作为测试工程师必备的技能之一，以下所罗列的exce...
