[专题讨论] 第五届IC测试研讨会详细内容 日期：2015-04-19 19:28:14 点击：2256 好评：237
2015年4月18日，每年两次的IC测试研讨大会----第五届IC测试研讨会，在上海张江IC咖啡隆重举行，参会的160多人共同分享了，本次特别为大家准备的四个极具代表性的IC测试主题，详情如下...
[测试开发工程] 浅谈IC测试程序的开发 日期：2015-04-15 22:42:04 点击：5057 好评：459
经常会看到有些工程师对测试开发讳忌莫深的样子，感觉测试开发很神秘的样子。又会看到一些测试工程师自信心爆棚，甚至会很鄙视一些所谓大公司的测试工程师，效率太低，水平太...
[优化经验] 关于测试数据的重要性 日期：2015-04-15 22:37:21 点击：1407 好评：267
今天来说一下测试数据，不管是在半导体产品研发、验证，还是测试开发、生产中，测试数据都是贯穿其中并起到极其重要的作用。 测试数据，是产品测试中产生的数据，包括测试验证...
[开发经验] 电容在测试电路中的思考 日期：2015-04-15 22:20:36 点击：1019 好评：246
电容的应用无处不在，功能也非常多，今天就谈谈在测试电路中要注意的方面。 1，电源滤波电容，在电源端我们一般会放置一些电容，以保证测试的稳定性。连接这种电容有什么讲究...
[开发经验] 详解模拟地-数字地-推荐！ 日期：2015-02-07 10:48:22 点击：1099 好评：255
编者按：这是一篇把模拟地及数字地分析相当到位的文章，可谓深入浅出，通俗易懂，看了之后让你立马明白模拟地及数字地的精髓所在！ 二者本质是一直的，就是数字地和模拟地都是...
[其他] 封测工厂的测试之痛 日期：2014-10-24 21:36:46 点击：2319 好评：294
从技术角度上来讲，集成电路的封装和量产测试是两个完全不同的概念和生产工艺环节，然而业界通常习惯性地把两者放在一起来讲。原因无它，只因为这两项业务在流程上属于紧密相...
[专题讨论] 第四届IC测试研讨会详细内容 日期：2014-09-22 20:21:58 点击：1907 好评：303
2014年9月13日，在大家的期待中，我们的第四届IC测试研讨会如期举行，我们为大家准备了3个经典主题，分别如下： 主题一：《 CP测试TrimFuse原理及技巧 》 演讲嘉宾：业界资深测试工程...
[测试培训] 第二期专业IC测试培训火热报名中…… 日期：2014-07-23 22:20:40 点击：1160 好评：386
专业IC测试网组织的第一期IC测试公益培训已经圆满结束，我们第二期的测试培训又要开始了，目前初步定在2014年8月23日正式开始，培训时间仍然安排在周末（每周六进行），为期3个月...
[调试经验] 浅谈如何消除各测试项目之间的干扰 日期：2014-05-24 22:11:13 点击：1444 好评：333
浅谈如何消除各测试项目之间的干扰 摘要： 本文主要阐述了对测试项目产生干扰的一些因素 关键词 ：干扰 测试顺序 测试外围 随着电子产业的飞速发展，测试产品的种类越来越多，测...
[优化经验] MTM（multifunctional trimming module) 日期：2014-05-24 21:54:51 点击：1385 好评：267
MTM （ multifunctional trimming module) － Dynamic Adjustment and Re-trim Solution TE: Vince Wei/Jerry Gao We always need to trim the fuse to adjust some parameter to a target value when chip probing(CP) . The processes of a common trimmi...
