[测试基础理论] ADC的动与静 日期：2018-04-26 10:39:39 点击：2324 好评：96
我们经常发现，同样一块load board，测出来的ADC的SNR似乎总是不如DAC的好。但是从routing上，又看不出太大的差异。无论是电源、地的设计，还是信号的shield，relay的选择，基本都一样。从...
[测试优化工程] 测试不稳定怎么办 日期：2018-04-16 10:47:54 点击：9461 好评：271
最近遇到好几起测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑就fail。这种不稳定的问...
[调试经验] 为什么器件有时候会无缘无故地失效？ 日期：2017-02-20 12:29:34 点击：1298 好评：200
问题:为什么未遭受压力的器件有时候会无缘无故地失效？ 答案: 有时候器件是寿终正寝，有时候是存在压力但不明显。 器件的寿终正寝是一种源于物理或化学变化的累积性衰退效应。...
[调试经验] 浅谈如何消除各测试项目之间的干扰 日期：2014-05-24 22:11:13 点击：1465 好评：333
浅谈如何消除各测试项目之间的干扰 摘要： 本文主要阐述了对测试项目产生干扰的一些因素 关键词 ：干扰 测试顺序 测试外围 随着电子产业的飞速发展，测试产品的种类越来越多，测...
[调试经验] 浅谈DC-DC测试的一些注意点 日期：2014-05-24 21:37:41 点击：3215 好评：333
浅谈 DC-DC 测试的一些注意点 摘要： 本文主要阐述了DC-DC测试的注意点 关键词 ：DC-DC 外围器件 波形 随着电子行业的不断发展，DC-DC升压转换器的运用越来越广泛，它主要运用于PDA掌上...
[测试基础理论] 集成稳压器调整率参数的测试 日期：2014-05-24 21:23:29 点击：1999 好评：344
集成稳压器调整率参数的测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 赵建平 摘要 本文介绍了集成稳压器调整率参数的测量原理和方法，分析了影响调整率参数测量精度的各种原因以及为此而采...
[测试基础理论] 半导体分立器件参数的脉冲测试 日期：2014-05-24 21:01:53 点击：1764 好评：334
半导体分立器件参数的脉冲测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 钟晓红 内 容 摘 要 本文介绍了半导体分立器件参数脉冲测试的必要性，有关标准对脉冲测试的要求及实现的方法。并介绍...
[测试机台/ATE] 利用测时仪测量交流信号的直流偏移 日期：2014-05-22 23:30:31 点击：1116 好评：280
关键字：测时仪 交流信号 直流偏移 在如今的半导体领域，要确定集成电路器件的功能性是否满足要求，往往需要对其进行多种电测试。其中一项就是测量器件的时序，这时必须用到测...
[优化经验] 为什么你的测试测不准—浅谈测试里的误差问题 日期：2014-01-20 15:44:27 点击：1435 好评：330
今天之所以要讲这个话题,主要是因为我看到现在还有不少的测试工程师还在把测试开发当作一个纯软件的工作.从软件的角度来看,输入固定的信息一般总是可以获得确定的结果,无论重复...
[芯片制造] 有关芯片trim之poly fuse 和metal fuse 日期：2008-11-18 21:41:11 点击：9887 好评：781
传统的Fuse主要有三种：以大电流烧断的金属熔线(Metal Fuse)和多晶硅熔线(Poly Fuse)，或是以激光烧断之金属熔线(Laser Fuse)。Fuse为电子产品中之关键性零组件，其功能为掌管备用内存(Redu...
