欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业集成电路测试网-芯片测试技术-ic test

当前位置: 网站主页 > 经验分享 >
  • [测试基础理论] 浅谈laser trimming特点及其应用 日期:2010-09-08 20:52:03 点击:892 好评:35

    采用先进的激光工艺,对硅上集成电路进行修调(trimming)时,不需要物理接触,可以大大减少电路上pad的数目;同时,激光修调工艺可以实现对电路中的薄膜电阻阻值高精密的调整,...

  • [模拟芯片] 通用运算放大器主要参数测试方法说明 日期:2010-08-24 11:12:56 点击:2664 好评:149

    运算放大器是模拟器件的核心,熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础,掌握了运放的测试,其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚,所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位,故劝各位...

  • [混合信号芯片] 基于自动测试系统的ADC测试开发 日期:2010-08-17 11:09:08 点击:1619 好评:23

    作者:张建强 北京大学深圳研究生院 冯建华 北京大学微电子学系 冯建科 北京自动测试技术研究所 摘 要: A /D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器...

  • [优化经验] wafer test Yield 的分析及提高 日期:2010-08-15 20:58:18 点击:1322 好评:21

    本文详细介绍了半导体制造过程中良率的提高分析,运用大量实例说明如何提高良率,作为测试工程师在CP测试中遇到低良率情况时,可以参考此资料,以分析测试及wafer各方面问题,另外本资...

  • [开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期:2010-08-15 20:54:47 点击:722 好评:8

    冯蕊,于祥苓,周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳ll0032) 摘要:介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...

  • [测试板/loadboard] RF类IC loadboard设计参考资料之电源部分 日期:2010-08-11 21:06:15 点击:456 好评:8

    在了解以上知识后,我们应该知道,时钟信号在布线时一定要远离这些噪声源,有时要用专门的屏蔽把时钟信号保护起来,以免被干扰而出现抖动和毛刺,时钟方面的问题先介绍至此,...

  • [测试生产工程] 测试厂CP及FT测试流程规范 日期:2010-08-10 16:57:34 点击:4145 好评:22

    对于测试厂来说,CP以及FT的测试流程尤为重要,一个良好的测试流程不仅能够提高测试厂的产能,测试效率,而且能够提高客户的认可,好评,本文介绍将分别介绍CP及FT的测试流程,...

  • [不良分析] 电子元器件失效分析技术—IC Failure Analysis 日期:2010-08-05 14:32:46 点击:799 好评:29

    本文详细讲解了IC及相关电子元器件失效分析技术,从失效分析步骤到具体操作程序,如:X-RAY,IC开帽(decap),C-SAM,EBT等,并举以实例,是一篇很好的IC失效分析参考资料。主要内容如...

  • [EDA工具] protel PCB布局布线经验谈 日期:2010-06-29 15:35:43 点击:519 好评:22

    -个布线工程师谈PCB设计的经验 -------------转载 看到不少弟兄的帖子,感觉没有对PCB有一个系统的、合理的设计流程。就随便写点,请高手指教。 一般PCB基本设计流程如下:前期准备...

  • [其他] 如何使用excel进行测试数据分析-EXCEL应用指南 日期:2010-06-24 16:19:35 点击:681 好评:0

    作为测试工程师,经常会遇到测试数据的处理,而Excel是一个很好的数据处理软件,如何使用它进行我们的测试数据的处理,这也是作为测试工程师必备的技能之一,以下所罗列的exce...

栏目列表