[开发经验] 测试程序量产导入的一般方法 日期：2013-12-23 17:06:13 点击：1529 好评：361
我前面写的几篇长微博斗是关于测试及产品品质管理的概念性讨论,而这次我想实打实地写一份干货,一份具有实践操作意义的指导说明 --测试程序量产导入的一般方法 我之所以要写这份...
[优化经验] 设计公司应该如何充分利用量产测试数据 日期：2013-12-19 17:10:14 点击：905 好评：330
中国人有一句俗话,入宝山岂可空手而归.凡是有价值的东西,就要充分加以利用.有枣没枣都要打三杆子的时代,不能做捧着金饭碗要饭的事情.不过可惜的是,似乎很多的芯片设计公司,都在...
[职场感悟] 关于IC测试的话题 日期：2013-12-10 16:51:11 点击：1765 好评：320
多年前的一个偶然机缘,让我进入IC测试这个领域,一晃就是十年多了.这么多年下来,我发现一个不算有趣的的现象,国内的设计公司大多数都没有一个像样的专业测试团队,或者就根本没有...
[开发经验] 小电流（高电阻）的测量技巧 日期：2013-04-18 20:30:16 点击：2889 好评：813
小电流的定义 IC测试机因为是高端测量，会受到内部开关，引线，pcb板等影响，所以最小电流量程一般为1UA左右；JUNO机等一些分立器件专用测试机，采用低端测量，加上特殊的布线等方...
[测试基础理论] 关于wafer测试的一些知识 日期：2012-04-16 21:28:42 点击：4260 好评：507
每颗IC在后工序之前都必须进行CP（Chip Prober），以验证产品的功能是否正常，并挑出不良的产品和区分性能等级。 CP主要设备包括测试机（Tester）和探针台（Prober）。 测试机 主要包括...
[开发经验] 集成电路IC测试开发流程规范 日期：2012-04-14 20:48:27 点击：1969 好评：855
第一章 测试规范流程 第二章 确定测试开发进度 第三章 测试前期的准备 第四章 测试方案及相关输出文件 第五章 量产测试调试阶段 第六章 测试程序及测试板验证 第七章 编写测试报告...
[测试机台/ATE] TR6800案例资料 日期：2012-04-14 20:47:22 点击：1688 好评：626
Single site double volt,curr; int CL_Time; #define VERROR 0.003 #define VERRORH 0.005 #define CLAMP_VERROR 0.03 #define IERROR 0.003 #define IERRORH 0.004 #define CLAMP_IERROR 0.03 #define RLY_STON 0.005 #define RLY_STOFF 0.001 #define ON 1...
[测试基础理论] IC测试基础培训资料 日期：2011-11-06 18:43:04 点击：298 好评：468
本文由国内IC资深测试工程师孙鹏程编写，资料图文并茂，浅显易懂，非常适于初学者培训，强烈推荐！！！ IC测试培训 第一章IC测试基础知识 By 孙鹏程2009-8-8 本章要点 1.1 什么是IC测试...
[不良分析] 集成电路相关参数及其故障表现 日期：2010-09-17 20:21:31 点击：558 好评：842
集成电路各项参数一般对分析电路的工作原理作用不大，但对于电路的故障分析与检修却有不可忽视的作用。在维修实践中，绝大多数均无厂家提供的IC参数，但了解集成电路相关知识...
[S0C系列] 基于ADVANTest T66XX的Base Band通信类SoC测 日期：2010-09-15 13:59:18 点击：2356 好评：694
摘要：本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题，在此将介绍基于ADVANTest(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字...
