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  • [专题讨论] 第五届IC测试研讨会详细内容 日期:2015-04-19 19:28:14 点击:1460 好评:4

    2015年4月18日,每年两次的IC测试研讨大会----第五届IC测试研讨会,在上海张江IC咖啡隆重举行,参会的160多人共同分享了,本次特别为大家准备的四个极具代表性的IC测试主题,详情如下...

  • [测试开发工程] 浅谈IC测试程序的开发 日期:2015-04-15 22:42:04 点击:2459 好评:176

    经常会看到有些工程师对测试开发讳忌莫深的样子,感觉测试开发很神秘的样子。又会看到一些测试工程师自信心爆棚,甚至会很鄙视一些所谓大公司的测试工程师,效率太低,水平太...

  • [优化经验] 关于测试数据的重要性 日期:2015-04-15 22:37:21 点击:460 好评:10

    今天来说一下测试数据,不管是在半导体产品研发、验证,还是测试开发、生产中,测试数据都是贯穿其中并起到极其重要的作用。 测试数据,是产品测试中产生的数据,包括测试验证...

  • [开发经验] 电容在测试电路中的思考 日期:2015-04-15 22:20:36 点击:517 好评:9

    电容的应用无处不在,功能也非常多,今天就谈谈在测试电路中要注意的方面。 1,电源滤波电容,在电源端我们一般会放置一些电容,以保证测试的稳定性。连接这种电容有什么讲究...

  • [开发经验] 详解模拟地-数字地-推荐! 日期:2015-02-07 10:48:22 点击:614 好评:10

    编者按:这是一篇把模拟地及数字地分析相当到位的文章,可谓深入浅出,通俗易懂,看了之后让你立马明白模拟地及数字地的精髓所在! 二者本质是一直的,就是数字地和模拟地都是...

  • [其他] 封测工厂的测试之痛 日期:2014-10-24 21:36:46 点击:1068 好评:43

    从技术角度上来讲,集成电路的封装和量产测试是两个完全不同的概念和生产工艺环节,然而业界通常习惯性地把两者放在一起来讲。原因无它,只因为这两项业务在流程上属于紧密相...

  • [专题讨论] 第四届IC测试研讨会详细内容 日期:2014-09-22 20:21:58 点击:1213 好评:21

    2014年9月13日,在大家的期待中,我们的第四届IC测试研讨会如期举行,我们为大家准备了3个经典主题,分别如下: 主题一:《 CP测试TrimFuse原理及技巧 》 演讲嘉宾:业界资深测试工程...

  • [测试培训] 第二期专业IC测试培训火热报名中…… 日期:2014-07-23 22:20:40 点击:922 好评:49

    专业IC测试网组织的第一期IC测试公益培训已经圆满结束,我们第二期的测试培训又要开始了,目前初步定在2014年8月23日正式开始,培训时间仍然安排在周末(每周六进行),为期3个月...

  • [调试经验] 浅谈如何消除各测试项目之间的干扰 日期:2014-05-24 22:11:13 点击:848 好评:60

    浅谈如何消除各测试项目之间的干扰 摘要: 本文主要阐述了对测试项目产生干扰的一些因素 关键词 :干扰 测试顺序 测试外围 随着电子产业的飞速发展,测试产品的种类越来越多,测...

  • [优化经验] MTM(multifunctional trimming module) 日期:2014-05-24 21:54:51 点击:853 好评:9

    MTM ( multifunctional trimming module) - Dynamic Adjustment and Re-trim Solution TE: Vince Wei/Jerry Gao We always need to trim the fuse to adjust some parameter to a target value when chip probing(CP) . The processes of a common trimmi...

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