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  • [开发经验] 集成电路IC测试开发流程规范 日期:2012-04-14 20:48:27 点击:668 好评:6

    第一章 测试规范流程 第二章 确定测试开发进度 第三章 测试前期的准备 第四章 测试方案及相关输出文件 第五章 量产测试调试阶段 第六章 测试程序及测试板验证 第七章 编写测试报告...

  • [测试机台] TR6800案例资料 日期:2012-04-14 20:47:22 点击:552 好评:2

    Single site double volt,curr; int CL_Time; #define VERROR 0.003 #define VERRORH 0.005 #define CLAMP_VERROR 0.03 #define IERROR 0.003 #define IERRORH 0.004 #define CLAMP_IERROR 0.03 #define RLY_STON 0.005 #define RLY_STOFF 0.001 #define ON 1...

  • [测试基础理论] IC测试基础培训资料 日期:2011-11-06 18:43:04 点击:260 好评:19

    本文由国内IC资深测试工程师孙鹏程编写,资料图文并茂,浅显易懂,非常适于初学者培训,强烈推荐!!! IC测试培训 第一章IC测试基础知识 By 孙鹏程2009-8-8 本章要点 1.1 什么是IC测试...

  • [不良分析] 集成电路相关参数及其故障表现 日期:2010-09-17 20:21:31 点击:189 好评:0

    集成电路各项参数一般对分析电路的工作原理作用不大,但对于电路的故障分析与检修却有不可忽视的作用。在维修实践中,绝大多数均无厂家提供的IC参数,但了解集成电路相关知识...

  • [S0C系列] 基于ADVANTest T66XX的Base Band通信类SoC测 日期:2010-09-15 13:59:18 点击:621 好评:13

    摘要:本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTest(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字...

  • [测试基础理论] 浅谈laser trimming特点及其应用 日期:2010-09-08 20:52:03 点击:539 好评:20

    采用先进的激光工艺,对硅上集成电路进行修调(trimming)时,不需要物理接触,可以大大减少电路上pad的数目;同时,激光修调工艺可以实现对电路中的薄膜电阻阻值高精密的调整,...

  • [模拟芯片] 通用运算放大器主要参数测试方法说明 日期:2010-08-24 11:12:56 点击:1777 好评:11

    运算放大器是模拟器件的核心,熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础,掌握了运放的测试,其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚,所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位,故劝各位...

  • [混合信号芯片] 基于自动测试系统的ADC测试开发 日期:2010-08-17 11:09:08 点击:874 好评:2

    作者:张建强 北京大学深圳研究生院 冯建华 北京大学微电子学系 冯建科 北京自动测试技术研究所 摘 要: A /D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器...

  • [优化经验] wafer test Yield 的分析及提高 日期:2010-08-15 20:58:18 点击:922 好评:2

    本文详细介绍了半导体制造过程中良率的提高分析,运用大量实例说明如何提高良率,作为测试工程师在CP测试中遇到低良率情况时,可以参考此资料,以分析测试及wafer各方面问题,另外本资...

  • [开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期:2010-08-15 20:54:47 点击:523 好评:0

    冯蕊,于祥苓,周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳ll0032) 摘要:介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...

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