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第三届IC测试研讨会详细内容

时间:2014-04-28 16:52来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

        2014年4月27日,在大家的期待中,我们的第三届IC测试研讨会如期举行,我们为大家准备了4个经典主题,分别如下:

主题一:《测试数据分析及验证术语介绍》

演讲嘉宾:业界资深测试工程师---jerry 高

1. 测试软硬件的验证都有哪些工作?我们的测试数据如何分析?
2. 什么是Test accuracy, resolution? cp, cpk, sigma, GR&R又是什么? Test guardband, temperature guardband又有什么意义?

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主题二:《Pattern Conversion》

演讲嘉宾:瀚驰信息科技CTO---Cavin Rui

1、EVCD (Extended Verilog value Change Dump)
2、VCD (Verilog value Change Dump)
3、WGL (Waveform Generate Language)
4、STIL (Standard Test Interface Language)

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主题三:《频率测试详解》

演讲嘉宾:江阴易捷测试-总经理---朱勤华

本主题将针对芯片测试中经常遇到的频率测试,做一个详细,深入的探讨,主要内容如下:

1. 频率及周期的基本概念
2. ATE中频率测量模块的构成,及实现原理。
3. 频率测试的一些特殊方法,如何实现高精度的频率测量。
4. ……

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主题四:《测试程序的量产导入流程》
 
演讲嘉宾:SOC测试开发资深人士 James 关

1. 量产测试程序的release要经过哪些流程?
2. 怎样保证测试的准确性?
3. 如何确认程序的稳定性?
4. 测试效率如何计算?
5. ……
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奖品设置
 
阳光普照奖:移动电源+精美记事本+精美签字笔

     
 
幸运奖10名:高、大、上真皮钱包一只

 
三等奖8名:猎鹰睡袋一个

 
二等奖6名:瑞士双肩背包一个
   

 
一等奖2名:低调、奢华、有内涵的全自动机械表一只


 
特等奖1名:三星pad一个

    


    下次研讨会将于2014年9月13日下午举行,期待您的光临~~

 
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