2014年4月27日，在大家的期待中，我们的第三届IC测试研讨会如期举行，我们为大家准备了4个经典主题，分别如下：

主题一：《测试数据分析及验证术语介绍》

演讲嘉宾：业界资深测试工程师---jerry 高

1. 测试软硬件的验证都有哪些工作？我们的测试数据如何分析？
2. 什么是Test accuracy, resolution？ cp, cpk, sigma, GR&R又是什么？ Test guardband, temperature guardband又有什么意义？

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主题二：《Pattern Conversion》

演讲嘉宾：瀚驰信息科技CTO---Cavin Rui

1、EVCD (Extended Verilog value Change Dump）
2、VCD (Verilog value Change Dump)
3、WGL (Waveform Generate Language)
4、STIL (Standard Test Interface Language)

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主题三：《频率测试详解》

演讲嘉宾：江阴易捷测试-总经理---朱勤华

本主题将针对芯片测试中经常遇到的频率测试，做一个详细，深入的探讨，主要内容如下：

1. 频率及周期的基本概念
2. ATE中频率测量模块的构成，及实现原理。
3. 频率测试的一些特殊方法，如何实现高精度的频率测量。
4. ……

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主题四：《测试程序的量产导入流程》
 
演讲嘉宾：SOC测试开发资深人士 James 关

1. 量产测试程序的release要经过哪些流程？
2. 怎样保证测试的准确性？
3. 如何确认程序的稳定性？
4. 测试效率如何计算？
5. ……
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特等奖1名：三星pad一个
    


    下次研讨会将于2014年9月13日下午举行，期待您的光临~~