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  • [测试工程] BHAST原理及板子设计加工制造注意事项 日期:2022-05-20 21:09:27 点击:3488 好评:30

    可靠性测试中,一般HTOL大家做的比较多,对其原理和老化板设计相对熟悉些,一般根据芯片应用电路图,结合使用的老化机台,测试pattern和DUT,配置测试通道和外围电路即可。但对于...

  • [测试工程] 如何判断IC失效是由EOS还是ESD引起的? 日期:2022-05-17 20:05:33 点击:2295 好评:15

    在电子器件组装过程中,EOS(Electrical Over Stress)与 ESD(Electrical Static Discharge)造成的集成电路失效约占现场失效器件总数的50%,且通常伴随较高不良率以及潜在可靠性问题,是产线一大杀...

  • [测试工程] 常见IGBT功率模块可靠性测试项目及测试方法 日期:2022-05-17 19:14:57 点击:5006 好评:49

    IGBT功率模块的可靠性,是指器件在一定时间内、一定条件下无故障的运行的能力,是功率模块最重要的品质特性之一。 要满足现代技术和生产的需要,获得更高的经济效益,必须使用...

  • [测试工程] ESD Latch up测试简介 日期:2022-05-04 10:35:08 点击:887 好评:10

    本文详细讲解了ESD 和latch up测试的技术要点,敬请参考...

  • [可靠性测试] 芯片ESD的原理和测试介绍 日期:2022-05-03 21:14:10 点击:1344 好评:8

    静电放电(ESD: Electrostatic Discharge),应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(几千伏),所以这种损...

  • [相关技术] SMT生产中锡珠的产生原因及控制方法 日期:2022-05-02 17:33:37 点击:348 好评:15

    二十多年来,随着电子信息产品的轻、薄、省电、小型化、平面化的不断发展,促使不同用途的电子产品必须采用表面贴装(SMT)技术。而锡珠对于电子产品具有严重的危害性,因此如...

  • [测试工程] 集成电路(IC)可靠性测试简介 日期:2022-04-25 18:52:55 点击:674 好评:16

    ...

  • [测试理论] 芯片测试的分类讲解 日期:2022-04-25 09:42:52 点击:919 好评:30

    做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试,芯片成本构成一般为人力成本20%,流片40%,封装35%,测试5%【对于先进工艺,流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...

  • [测试工程] AEC Q100车用芯片可靠性测试标准详解 日期:2022-03-26 13:07:40 点击:1552 好评:12

    AEC(Automotive Electronics Council)汽车电子委员会,由美国三大汽车公司(Chrysler / Ford / GM)联合发起,并于1994年创立,会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。 AEC Q100是基于失...

  • [测试工程] 芯片测试之HTOL UHAST BHAST简介 日期:2021-05-12 14:23:00 点击:10164 好评:40

    芯片测试过程中,芯片可靠性是非常重要的一环,ESD和Latchup等可靠性测试时间比较短,表征只是瞬间的芯片性能,那么芯片长期运行性能表征要怎么测试呢? HTOL,uHAST,BHAST的测试就是...

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