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  • [测试工程] 集成电路(IC)可靠性测试简介 日期:2022-04-25 18:52:55 点击:631 好评:16

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  • [测试理论] 芯片测试的分类讲解 日期:2022-04-25 09:42:52 点击:849 好评:30

    做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试,芯片成本构成一般为人力成本20%,流片40%,封装35%,测试5%【对于先进工艺,流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...

  • [测试工程] AEC Q100车用芯片可靠性测试标准详解 日期:2022-03-26 13:07:40 点击:1370 好评:12

    AEC(Automotive Electronics Council)汽车电子委员会,由美国三大汽车公司(Chrysler / Ford / GM)联合发起,并于1994年创立,会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。 AEC Q100是基于失...

  • [测试工程] 芯片测试之HTOL UHAST BHAST简介 日期:2021-05-12 14:23:00 点击:9658 好评:36

    芯片测试过程中,芯片可靠性是非常重要的一环,ESD和Latchup等可靠性测试时间比较短,表征只是瞬间的芯片性能,那么芯片长期运行性能表征要怎么测试呢? HTOL,uHAST,BHAST的测试就是...

  • [测试工程] 芯片测试之ESD详解 日期:2021-05-08 13:51:00 点击:1751 好评:6

    在芯片测试过程中,ESD是一项非常关键的指标来表征芯片的可靠性。ESD在生活中随处可见,但在芯片测试中,将其归于几种模型,在保证其可靠性的同时,方便测试。 ESD测试归于两个大...

  • [测试工程] LatchUp测试详解 日期:2021-05-07 13:28:00 点击:6008 好评:32

    大家都知道IC芯片的可靠性是芯片能不能正常量产的重要指标,那么IC的可靠性都包括哪些呢?ESD(HBM,CDM),HTOL(老化测试),HAST(封装可靠性测试),BHAST(偏压可靠性测试),当然还有...

  • [测试工程] AEC-Q100认证流程和测试方法 日期:2020-02-12 10:55:00 点击:761 好评:8

    AEC-Q100认证流程和测试方法 通用测试 测试流程如图1:AEC-Q100认证流程 所示,测试细则如表1:AEC-Q100认证测试方法所列。并不是所有测试都适用于一切器件,例如某些测试只适用于陶瓷封装...

  • [可靠性测试] 元器件失效分析方法 日期:2018-05-28 10:23:19 点击:2516 好评:137

    失效分析基本概念 定义:对失效电子元器件进行诊断过程。 1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。 2、失效分析的目的是确定失效模式和失...

  • [可靠性测试] IC产品的质量与可靠性测试 日期:2018-01-14 16:46:55 点击:4450 好评:190

    质量(Quality)和可靠性(Reliability)在一定程度上可以说是IC产品的生命。质量(Quality)就是产品性能的测量,它回答了一个产品是否合乎规格(SPEC)的要求,是否符合各项性能指标的...

  • [专题讨论] 第十届IC测试研讨会详细内容 日期:2017-12-15 15:43:57 点击:2301 好评:138

    在广大测试工程师的期待中,我们第十届IC测试研讨会于2017年12月9日,在上海张江IC咖啡隆重举行,来自全球150位测试精英工程师们共同分享这次技术大餐,干货如下: 主题一:《ATE射...

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