[优化经验] MTM（multifunctional trimming module) 日期：2014-05-24 21:54:51 点击：1477 好评：267
MTM （ multifunctional trimming module) － Dynamic Adjustment and Re-trim Solution TE: Vince Wei/Jerry Gao We always need to trim the fuse to adjust some parameter to a target value when chip probing(CP) . The processes of a common trimmi...
[测试优化工程] RELAY关断时波形对比 日期：2014-05-22 22:07:11 点击：2967 好评：337
RELAY 关断时感应波形对比 一、对象 RELAY_A：OMRON 2097N2 +12V 双刀双掷白色继电器 RELAY_B：TPM 20R-1A11N1 +5V 单刀单掷银色继电器 RELAY 线包可等效为电阻与电感并联，RELAY_A电阻约1K，RELAY_B电阻...
[优化经验] IC测试QQ群(111938408)经典讨论---测试良品的标准 日期：2014-02-19 19:11:17 点击：994 好评：343
IC测试QQ群经典讨论之测试良品的标准 Dragon 11:34:46 求助： 有没有这个标准，说出货的良品里面不良品的百分比是多少算合格？ 万分之一？ Richard 11:35:38 不是有AQL吗 按GB2828 Dragon 11:35:5...
[开发经验] 测试程序量产导入的一般方法 日期：2013-12-23 17:06:13 点击：1609 好评：363
我前面写的几篇长微博斗是关于测试及产品品质管理的概念性讨论,而这次我想实打实地写一份干货,一份具有实践操作意义的指导说明 --测试程序量产导入的一般方法 我之所以要写这份...
[优化经验] 设计公司应该如何充分利用量产测试数据 日期：2013-12-19 17:10:14 点击：979 好评：330
中国人有一句俗话,入宝山岂可空手而归.凡是有价值的东西,就要充分加以利用.有枣没枣都要打三杆子的时代,不能做捧着金饭碗要饭的事情.不过可惜的是,似乎很多的芯片设计公司,都在...
[开发经验] 集成电路IC测试开发流程规范 日期：2012-04-14 20:48:27 点击：2159 好评：859
第一章 测试规范流程 第二章 确定测试开发进度 第三章 测试前期的准备 第四章 测试方案及相关输出文件 第五章 量产测试调试阶段 第六章 测试程序及测试板验证 第七章 编写测试报告...
[S0C系列] 基于ADVANTest T66XX的Base Band通信类SoC测 日期：2010-09-15 13:59:18 点击：2477 好评：696
摘要：本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题，在此将介绍基于ADVANTest(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字...
[混合信号芯片] 基于自动测试系统的ADC测试开发 日期：2010-08-17 11:09:08 点击：3526 好评：610
作者：张建强 北京大学深圳研究生院 冯建华 北京大学微电子学系 冯建科 北京自动测试技术研究所 摘 要: A /D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器...
[优化经验] wafer test Yield 的分析及提高 日期：2010-08-15 20:58:18 点击：2675 好评：842
本文详细介绍了半导体制造过程中良率的提高分析,运用大量实例说明如何提高良率,作为测试工程师在CP测试中遇到低良率情况时,可以参考此资料,以分析测试及wafer各方面问题,另外本资...
[开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期：2010-08-15 20:54:47 点击：1498 好评：842
冯蕊，于祥苓，周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳ll0032) 摘要：介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...
