欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408
注册
|
登录
|
高级搜索
|
网站地图
|
[
设为首页
] [
加入收藏
]
网站首页
测试工程
测试理论
测试实例
测试设备
相关技术
经验分享
测试研讨会
测试论坛
业界新闻
职业规划
拓展业务
关于我们
搜索
检索标题
智能模糊
搜索
热门标签:
TR6850
eeprom
ASL1000
IDDQ
LCD driver
ACCOTEST
Kalos
FA
csp测试
封装测试
当前位置:
网站主页
>
测试工程
>
[
混合信号芯片
]
通信类SoC-Base Band测试方案
日期:
2005-02-25 09:33:32
点击:
1348
好评:
691
通信类SoC测试方案Base Band 徐勇,魏炜,川端雅之,小圆祐一,浅见幸司 ADVANTEST 摘要:本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题,在此将介绍基于...
首页
上一页
34
35
36
37
38
39
末页
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
共
39
页
381
条
栏目列表
测试开发工程
测试生产工程
测试优化工程
可靠性测试
热文排行
系统级测试(SLT)详解
测试不稳定怎么办
芯片测试之HTOL UHAST BHAST简介
测试厂CP及FT测试流程规范
浅谈ESD防护—CDM(一)
LatchUp测试详解
浅谈IC测试程序的开发
IC封装样品失效分析方法、原理、设
本类推荐
芯片检测应用中无损检测-X-ray
V93000学习入门(9)补充篇
IC测试术语
芯片测试中的Trim
AEC-Q系列标准中的静电放电(ESD)测
V93000学习入门(8)
NAND Flash 存储器测试
基于ATE的IC测试原理(2)